Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 9898-2-1:2013 (IEC 62391-2-1:2006) về Tụ điện hai lớp có điện dung không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 2-1: Quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống – Tụ điện hai lớp dùng cho các ứng dụng công suất – Mức đánh giá EZ

[1]

TCVN 9898-2-1-XXX (IEC 62391-2-1-XXX)      [ 2]

QC XXXXXXXXXXX

Linh kiện điện tử được đánh giá chất lượng theo

[3]

TCVN 9898-2-1 (IEC 62391-2-1) [4]

QC XXXXXX

[6]

Mức (các mức) đánh giá: EZ                   [8]

CHÚ THÍCH: Đối với từ [1] đến [9]: xem trang trước.

Thông tin sẵn có của linh kiện đạt chất lượng đối với quy định kỹ thuật cụ thể này được đưa ra trong IEC QC 001005

[9]

Chuẩn cỡ hộp

Kích thước

mm

Æ

W

H

d

…

CHÚ THÍCH 1: Khi không có chuẩn cỡ hộp, Bảng 1 có thể được bỏ qua và kích thước cần được đưa ra trong Bảng 2a, khi đó Bảng 2a trở thành Bảng 1.

CHÚ THÍCH 2: Kích thước cần được đưa ra là các kích thước lớn nhất hoặc kích thước danh nghĩa kèm theo dung sai.

Điện áp danh định

Điện dung danh định F

Cỡ hộp

Cỡ hộp

Cỡ hộp

Cỡ hộp

U_R

V

C_R

F

Điện trở trongở...°C

Dòng điện rò mA (nếu áp dụng)

Bảng này được sử dụng cho việc xác định các đặc tính bổ sung hoặc thêm mức khắc nghiệt hơn đã đưa ra trong quy định kỹ thuật từng phần.

Số Điều và thử nghiệm^a

D hoặc ND

^b

Điều kiện của thử nghiệm^a

Số mẫu và số đối tượng không phù hợp

Yêu cầu tính năng^a

IL

n

c

Nhóm kiểm tra A

(từng lô)

Phân nhóm A0

4.4.2 Điện dung

4.4.3 Điện trở trong

4.4.1 Dòng dò (nếu áp dụng)

ND

theo Loại 3

Điện trở DC: theo loại 3^f

Điện trở bảo vệ W

100 %^c

Nằm trong dung sai quy định

Như trong Bảng 2b

Như trong Bảng 2b

Phân nhóm A1

4.3 Kiểm tra bằng mắt

ND

S-3

^d

0

Như trong 4.3.2

Ghi nhãn rõ ràng và như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Phân nhóm A2

4.3 Kích thước (chi tiết)^e

ND

S-3

^d

0

Như quy định trong Bảng 1 của quy định kỹ thuật này

Nhóm kiểm tra B

(từng lô)

Phân nhóm B1

4.7 Khả năng hàn^g

4.7.1 Phép đo kết thúc

D

Phương pháp thử nghiệm: phương pháp bể hàn (Phương pháp 1)

Kiểm tra bằng mắt

S-3

^d

0

75% hoặc nhiều hơn các chân phải được bao phủ bởi lớp hàn mới

Phân nhóm B2

4.13 Các đặc tính ở nhiệt độ cao và nhiệt độ thấp

ND

Nấc 1: 20 °C
Điện dung
Điện trở trong
Nấc 2: -25 °C
Điện dung

Điện trở trong

S-3

^d

0

DC/C £ 30 % giá trị đo được trong Bước 1

£ 4 lần giới hạn quy định trong 4.4.3

Nhóm kiểm tra C

(định kỳ)

Phân nhóm C1A

4.3 Kích thước (chi tiết)

4.5 Độ cứng vững của các chân

D

Phương pháp thử nghiệm:

Thử nghiệm U_a1 (độ bền kéo)

Thử nghiệm U_b (độ bền uốn)

12

8

0

^h

Như quy định trong Bảng 1 củaquy định kỹ thuật này.

4.5.1 Phép đo ban đầu

4.5.2 Phép đo kết thúc

4.6 Khả năng chịu nhiệt hàn ^g

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Phương pháp 1a của Thử nghiệm Tb

Phục hồi:...

Không có hư hỏng thấy được

Ghi nhãn rõ ràng DC/C £ 10 % giá trị đo được trong 4.5.1

4.6.1 Phép đo bắt đầu

4.6.3 Phép đo kết thúc

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Không có hư hỏng thấy được

Ghi nhãn rõ ràng và không có rò rỉ chất điện phân

DC/C £ 10 % giá trị đo được trong 4.6.1

Phân nhóm C1B

Phần mẫu của Nhóm C1

4.8 Thay đổi nhiệt độ đột ngột

4.8.1 Phép đo bắt đầu

4.8.3 Phép đo kết thúc

T_A = nhiệt độ mức thấp

T_B = nhiệt độ mức cao

5 chu kỳ

Thời gian thử nghiệm t₁ = ...

Điện dung Kiểm tra bằng mắt

Điện dung Kiểm tra bằng mắt

12

8

0

h

Không có hư hỏng nhìn được và không có rò rỉ chất điện phân

DC/C £ 10 % giá trị đo được trong 4.8.1 đối với điện dung

4.9 Rung

Phương pháp lắp đặt: xem 1.4.2

4.9.1 Phép đo bắt đầu

Điện dung (giá trị thu được trong 4.8.3 có thể được sử dụng)

Kiểm tra bằng mắt

4.9.3 Phép đo kết thúc

Điện dung

Không có hư hỏng nhìn được, ghi nhãn rõ ràng và không có rò rỉ chất điện phân

DC/C £ 10 % giá trị đo được trong 4.9.1

Phân nhóm C2

ND

6

16

0

4.10 Độ bền

Khoảng thời gian:

1 000 h đối với các tụ điện loại 70 °C nhiệt độ mức cao

2 000 h đối với các tụ điện cấp 60 °C nhiệt độ mức cao

Điện áp:... V

Phục hồi: 16 h min.

h

4.10.1 Phép đo bắt đầu

Điện dung

4.10.3 phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Điện trở trong

Không có hư hỏng nhìn được và không rò chất điện phân

DC/C £ 30 % giá trị đo được trong 4.10.1

£ 4 lần giới hạn đã quy định trong 4.4.3

Phân nhóm C3A

4.11 Tự phóng điện

4.11.2 Phép đo kết thúc

4.12 Lưu kho ở nhiệt độ cao

D

Điện áp nạp:...

Thời gian nạp: 8 h

Điện áp duy trì

Nhiệt độ thử nghiệm: nhiệt độ mức cao

Khoảng thời gian: 96 h ± 4 h

Phục hồi: 16 h min.

6

8

0

h

Điện áp duy trì sau phơi nhiễm 24 h tại nhiệt độ phòng sau khi nạp phải là 80 % hoặc hơn của điện áp nạp

4.12.3 Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Điện trở trong

Không có hư hỏng nhìn được và không rò chất điện phân

DC/C £ 10 % giá trị đo được trong 4.12.1

£ 2 lần giới hạn đã quy định trong 4.4.3

Phân nhóm C3B

4.14 Nhiệt ẩm, trạng thái ổn định

4.14.1 Phép đo ban đầu

4.14.3 Phép đo kết thúc

Nhiệt độ, độ ẩm, 40 °C, từ 90 % đến 95 %

Thời gian :10 ngày

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Tụ điện

6

8

0

h

Không có hư hỏng nhìn được và không rò chất điện phân

DC/C £30 % giá trị đo được trong 4.4.3

Phân nhóm C4

4.13 Đặc tính ở nhiệt độ cao và thấp

D

Các tụ điện phải được đo ở mỗi nấc nhiệt độ

Nấc 1: 20 °C

Điện dung

Nấc 2: nhiệt độ mức thấp

Điện dung

Điện trở trong

Nấc 3: nhiệt độ mức cao

Điện dung

Điện trở trong

12

8

0

h

Để sử dụng như một giá trị chuẩn

DC/C £ 30 % giá trị đo được trong Bước 1

£ 4 lần giới hạn đã quy định trong 4.4.3

DC/C £ 30 % giá trị đo được trong Bước 1

£ giới hạn đã quy định trong 4.4.3

Phân nhóm C4A

4.15 Khả năng cháy thụ động

(nếu áp dụng)

D

Hạng mục khả năng cháy:...

12

4

0

Như trong 4.15.1

Phân nhóm C4B

4.16 Giảm áp

(nếu áp dụng)

D

Điện áp áp dụng:…..

12

4

0

Như trong 4.16.1

a Số Điều của thử nghiệm và các yêu cầu tính năng liên quan đến quy định kỹ thuật từng phần, IEC 62391-2, và Điều 1 của quy định kỹ thuật này.

b Trong bảng này, p = chu kì (tháng); n = cỡ mẫu; c = tiêu chí chấp nhận (số cho phép các hạng mục không phù hợp); D = phá hủy; ND = không phá hủy; IL = mức kiểm tra.

c 100 % thử nghiệm phải được theo dõi bởi tự kiểm tra bằng việc lấy mẫu để giám sát mức độ chất lượng cho ra bởi các đối tượng không phù hợp trên phần triệu (ppm). Cấp lấy mẫu phải được thiết lập bởi nhà chế tạo. Để tính toán các giá trị ppm bất cứ lỗi tham số nào phải được tính như một đối tượng không phù hợp. Nếu một hoặc nhiều hơn các đối tượng không phù hợp xuất hiện trong một mẫu, lô này phải được loại bỏ.

d Mức kiểm tra được chọn từ IEC 60410.

e Thử nghiệm này phải được thay thế bởi thử nghiệm trên dây chuyền nếu nhà chế tạo cài đặt kiểm soát xử lý thống kê (SPC) trên các phép đo kích thước hoặc các cơ chế khác để tránh các phần vượt quá giới hạn.

f Phương pháp điện trở xoay chiều phải được sử dụng khi mối tương quan được tìm thấy với các kết quả của phương pháp đo một chiều. Phương pháp đo phải tương thích với 4.6.1 của IEC 62391-1.

g Không thể áp dụng các tụ điện có các chân là vít hoặc các chân khác không được thiết kế để hàn, như đã quy định trong quy định kỹ thuật chi tiết.

n Nếu có một hạng mục không phù hợp, toàn bộ các thử nghiệm của Nhóm phải được lặp lại trên một mẫu mới và sau đó không có hạng mục không phù hợp nào nữa. Từ chối sản phẩm có thể tiếp tục trong thời gian lặp lại thử nghiệm.