Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 12670-1:2020 (IEC 60825-1:2014) về An toàn sản phẩm laser - Phần 1: Phân loại thiết bị và các yêu cầu

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 12670-1:2020

IEC 60825-1:2014

AN TOÀN SẢN PHẨM LASER - PHẦN 1: PHÂN LOẠI THIẾT BỊ VÀ CÁC YÊU CẦU

Safety of laser products - Part 1: Equipment classification and requirements

Lời nói đầu

TCVN 12670-1:2020 hoàn toàn tương đương với IEC 60825-1:2014;

TCVN 12670-1:2020 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/E1 Máy điện và khí cụ điện biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

Bộ tiêu chuẩn TCVN 12670 (IEC 60825), An toàn sản phẩm laser, gồm có các phần sau:

- TCVN 12670-1:2020 (IEC 60825-1:2014), Phần 1: Phân loại thiết bị và các yêu cầu

- TCVN 12670-14:2019 (IEC/TR 60825-14:2004), Phần 14: Hướng dẫn sử dụng

AN TOÀN SẢN PHẨM LASER - PHẦN 1: PHÂN LOẠI THIẾT BỊ VÀ CÁC YÊU CẦU

Safety of laser products - Part 1: Equipment classification and requirements

1  Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định an toàn của các sản phẩm laser phát bức xạ laser trong dải bước sóng từ 180 nm đến 1 mm.

Mặc dù vẫn có những bộ phát laser phát ra bức xạ ở các bước sóng nhỏ hơn 180 nm (trong phạm vi cực tím chân không), nhưng nó không thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này vì tia laser thường phải được bọc trong vỏ bọc hút chân không và do đó các nguy hiểm bức xạ quang tiềm ẩn thường là rất nhỏ.

Sản phẩm laser có thể gồm một bộ phát laser duy nhất có hoặc không có nguồn cấp riêng hoặc có thể có một hoặc nhiều bộ phát laser trong hệ thống quang, điện hoặc cơ kết hợp. Thông thường, các sản phẩm laser được sử dụng để minh họa các hiện tượng vật lý hoặc quang, xử lý vật liệu, đọc và lưu trữ dữ liệu, truyền tải và hiển thị thông tin, v.v. Các hệ thống này được sử dụng trong công nghiệp, kinh doanh, giải trí, nghiên cứu, giáo dục, y tế và các sản phẩm tiêu dùng.

Không áp dụng tiêu chuẩn này cho các sản phẩm laser được bán cho các nhà chế tạo khác để sử dụng như các thành phần cấu thành cho hệ thống bất kỳ cho sản phẩm laser đó mà áp dụng cho bản thân sản phẩm cuối cùng. Các sản phẩm laser được bán cho hoặc bán bởi nhà chế tạo sản phẩm cuối cùng để sử dụng làm linh kiện thay thế cho sản phẩm cuối cùng thì cũng không phải áp dụng tiêu chuẩn này. Tuy nhiên, nếu hệ thống laser trong sản phẩm cuối cùng có khả năng hoạt động khi đã được tháo ra khỏi sản phẩm cuối cùng thì áp dụng các yêu cầu của tiêu chuẩn này cho hệ thống laser có thể tháo rời đó.

CHÚ THÍCH 1: Thiết bị có khả năng hoạt động là thiết bị không đòi hỏi dụng cụ để chuẩn bị hoạt động.

Sản phẩm laser bất kỳ không phải đáp ứng bất kỳ yêu cầu thêm nữa trong tiêu chuẩn này nếu sự phân loại sản phẩm đó được thực hiện bởi nhà chế tạo theo Điều 4 và Điều 5 cho thấy mức phát xạ không vượt quá AEL (mức phát xạ chấp nhận được) của cấp 1 trong tất cả các điều kiện vận hành, bảo trì, bảo dưỡng và sửa chữa. Sản phẩm laser như vậy có thể được gọi là sản phẩm laser được loại trừ.

CHÚ THÍCH 2: Việc loại trừ nêu trên để đảm bảo rằng các sản phẩm laser an toàn vốn có sẽ không phải chịu các yêu cầu của Điều 6, Điều 7, Điều 8 và Điều 9.

Ngoài các ảnh hưởng bất lợi tiềm ẩn xuất phát từ việc phơi nhiễm bức xạ laser, một số thiết bị laser cũng có thể có các nguy hiểm kết hợp khác, ví dụ về điện, hóa và các nhiệt độ cao hoặc thấp. Bức xạ laser có thể gây ra việc hỏng thị lực tạm thời ví dụ lóa hoặc chói mắt. Các ảnh hưởng này phụ thuộc vào tác vụ và mức ánh sáng môi trường xung quanh và vượt ra khỏi phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này. Phân loại và các yêu cầu khác của tiêu chuẩn này được thiết kế chỉ cho các nguy hiểm bức xạ laser đến mắt và da. Các nguy hiểm khác không thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn.

Tiêu chuẩn này đưa ra các yêu cầu tối thiểu. Sự phù hợp với tiêu chuẩn này có thể không đủ để có mức an toàn sản phẩm cần thiết. Các sản phẩm laser cũng có thể đòi hỏi phải phù hợp với các yêu cầu về tính năng và thử nghiệm áp dụng được trong các tiêu chuẩn an toàn sản phẩm áp dụng được khác.

CHÚ THÍCH 3: Các tiêu chuẩn khác có thể chứa các yêu cầu bổ sung. Ví dụ, sản phẩm laser cấp 3B hoặc cấp 4 có thể không thlch hợp để sử dụng như sản phẩm tiêu dùng.

Trong trường hợp hệ thống laser tạo thành một phần của thiết bị thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn an toàn sản phẩm khác, ví dụ thiết bị điện y tế (TCVN 7303-2-22 (IEC 60601-2-22)), thiết bị công nghệ thông tin (bộ tiêu chuẩn TCVN 7326 (IEC 60950)), thiết bị audio và video (TCVN 6385 (IEC 60065)), thiết bị audio-video và công nghệ thông tin (IEC 62368-1), thiết bị sử dụng trong khí quyển nguy hiểm (TCVN 10888 (IEC 60079)) hoặc đồ chơi sử dụng điện (TCVN 11332 (IEC 62115)), thì tiêu chuẩn này sẽ áp dụng theo các quy định của IEC Guide 104 đối với các nguy hiểm gây ra do bức xạ laser. Nếu không có tiêu chuẩn an toàn sản phẩm nào áp dụng được thì có thể áp dụng IEC 61010-1.

Đối với các thiết bị chữa mắt, để đảm bảo an toàn cho bệnh nhân, cần áp dụng thêm ISO 15004-2 và cần áp dụng các nguyên tắc của giới hạn cho trong tiêu chuẩn ISO đó cho bức xạ laser (xem thêm Phụ lục C và D).

Trước đây, điốt phát quang (LED) cũng thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này, và có thể vẫn thuộc phạm vi áp dụng của các phần khác của bộ tiêu chuẩn IEC 60825. Tuy nhiên, với việc xây dựng các tiêu chuẩn an toàn bóng đèn, an toàn bức xạ quang của LED nhìn chung có thể được đề cập thích hợp hơn trong các tiêu chuẩn an toàn bóng đèn đó. Việc loại bỏ LED ra khỏi phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này không nhằm ngăn ngừa các tiêu chuẩn khác đưa LED vào bất cứ khi nào đề cập đến laser. Có thể áp dụng IEC 62471 để xác định nhóm rủi ro của LED hoặc sản phẩm có chứa một hoặc nhiều LED. Một số tiêu chuẩn khác có thể yêu cầu áp dụng phép đo, phân loại, quy định kỹ thuật và các yêu cầu về ghi nhãn của tiêu chuẩn này cho các sản phẩm LED.

Các sản phẩm laser có bức xạ tiếp cận được thấp hơn tiêu chí quy định trong 4.4, được thiết kế để làm việc như các nguồn sáng thông thường, và đáp ứng các yêu cầu quy định trong 4.4 thì có thể được đánh giá bằng bộ tiêu chuẩn IEC 62471. Sản phẩm này vẫn thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này, tuy nhiên phát xạ bức xạ quang nêu trên không nhất thiết được phân loại.

Các giá trị phơi nhiễm lớn nhất cho phép (MPE) được cho trong Phụ lục A được xây dựng cho bức xạ laser và không áp dụng cho bức xạ phụ thêm. Tuy nhiên, nếu có lo ngại là bức xạ phụ thêm tiếp cận được có thể nguy hiểm, các giá trị MPE của laser có thể áp dụng để đánh giá nguy hiểm tiềm ẩn này hoặc xem xét thêm các giá trị giới hạn phơi nhiễm trong IEC 62471.

Các giá trị MPE trong Phụ lục A không áp dụng cho phơi nhiễm có chủ ý của người với bức xạ laser cho mục đích điều trị y tế hoặc điều trị mỹ phẩm/thẩm mỹ.

CHÚ THÍCH 4: Các phụ lục tham khảo từ A đến G được đưa vào tiêu chuẩn nhằm cung cấp hướng dẫn chung và minh họa nhiều trường hợp điển hình. Tuy nhiên, các phụ lục này không được coi là có tính quyết định hoặc toàn diện.

Mục đích của tiêu chuẩn này nhằm:

- đưa ra hệ thống phân loại laser và sản phẩm laser phát bức xạ trong dải bước sóng 180 nm đến 1 mm theo cấp nguy hiểm bức xạ quang của chúng để giúp đánh giá và xác định các biện pháp bảo vệ cho người sử dụng;

- thiết lập các yêu cầu cho nhà chế tạo cung cấp thông tin sao cho có thể sử dụng được biện pháp phòng ngừa thích hợp;

- thông qua nhãn và hướng dẫn, đầm bảo cảnh báo đủ cho các cá nhân về các nguy hiểm liên quan đến bức xạ tiếp cận được từ các sản phẩm laser;

- giảm khả năng bị thương hoặc giảm thiểu bức xạ tiếp cận được không cần thiết và đưa ra biện pháp bảo vệ tăng cường đối với các nguy hiểm bức xạ laser thông qua các đặc trưng bảo vệ.

2  Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn dưới đây là cần thiết để áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn có ghi năm công bố thì áp dụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).

IEC 60050 (tất cả các phần), International Electrotechnical Vocabulary (Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế)

IEC 62471 (tất cả các phần), Photobiological safety of lamps and lamp systems (An toàn quang sinh học của bóng đèn và hệ thống bóng đèn)

3  Thuật ngữ và định nghĩa

Tiêu chuẩn này sử dụng các thuật ngữ và định nghĩa trong IEC 60845 và các thuật ngữ và định nghĩa dưới đây.

3.1

Tấm tiếp cận (access panel)

Phần của vỏ bảo vệ tạo ra tiếp cận với bức xạ laser khi tháo hoặc dịch chuyển tấm này.

3.2

Phát xạ tiếp cận được (accessible emission)

Mức bức xạ được xác định tại vị trí và với các nắp che lỗ mở (khi AEL được cho dưới dạng oát hoặc jun) hoặc các lỗ mở giới hạn (khi AEL được cho dưới dạng W·m^-2 hoặc J·m^-2) như mô tả trong Điều 5.

CHÚ THÍCH 1: Phát xạ tiếp cận được được xác định trong trường hợp xét đến sự tiếp cận của người, như quy định trong 3.40. Phát xạ tiếp cận được (được xác định trong quá trình vận hành) được so sánh với giới hạn phát xạ tiếp cận được (xem 3.3) để xác định cấp của sản phẩm laser. Trong tiêu chuẩn này, bất cứ khi nào sử dụng thuật ngữ mức phát xạ thì cần được hiểu là phát xạ tiếp cận được.

CHÚ THÍCH 2: Khi chùm tia rộng hơn nắp che lỗ mở, phát xạ tiếp cận được khi đó được cho dưới dạng oát hoặc jun nhỏ hơn tổng năng lượng hoặc công suất phát ra của sản phẩm laser. Khi chùm tia nhỏ hơn lỗ mở giới hạn, phát xạ tiếp cận được khi đó được cho dưới dạng W·m^-2 hoặc J·m^-2, tức là độ rọi hoặc phơi nhiễm bức xạ lấy trung bình trên lỗ mở giới hạn, nhỏ hơn độ rọi thực hoặc phơi nhiễm bức xạ của chùm tia. Xem thêm nắp che lỗ mở (3.9) và lỗ mở giới hạn (3.55).

3.3

Giới hạn phát xạ tiếp cận được (accessible emission limit)

AEL

Phát xạ lớn nhất tiếp cận được được phép trong phạm vi cấp cụ thể của sản phẩm.

CHÚ THÍCH: Trong trường hợp nội dung đề cập đến “mức phát xạ không vượt quá AEL” hoặc nội dung tương tự thì có nghĩa là phát xạ tiếp cận được được xác định theo tiêu chí đo quy định trong Điều 5.

3.4

Kiểm soát về hành chính (administrative control)

Biện pháp an toàn không thuộc loại kỹ thuật, ví dụ giám sát chìa khóa; huấn luyện an toàn cho người vận hành; cảnh báo; các quy trình đếm ngược; và các bảo vệ an toàn về khoảng cách.

CHÚ THÍCH: Điều này có thể được nhà chế tạo quy định (xem Điều 8).

3.5

Góc chấp nhận (angle of acceptance)

γ

Góc phẳng trong đó bộ phát hiện sẽ phản ứng với bức xạ quang và thường được đo bằng radian.

CHÚ THÍCH 1: Góc chấp nhận này có thể được kiểm soát bằng các lỗ mở hoặc phần tử quang phía trước bộ phát hiện (xem Hình 1 và Hình 2). Góc chấp nhận đôi khi cũng được gọi là trường nhìn.

CHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.

CHÚ THÍCH 3: Không nên nhầm góc chấp nhận với góc trương của nguồn hoặc sự phân kỳ của chùm tia.

3.6

Góc trương (angular subtense)

Góc phẳng được trương bởi một cung tròn, tính bằng tỷ số giữa chiều dài cung tròn và bán kính của cung.

CHÚ THÍCH 1: Đơn vị SI: radian.

CHÚ THÍCH 2: Đối với các góc nhỏ, góc trương của đường thẳng ở khoảng cách cho trước được tính bằng cách chia chiều dài đường thẳng cho khoảng cách. Đối với các góc lớn, cần tính đến sự khác biệt giữa đoạn thẳng dây cung và cung.

3.7

Góc trương của nguồn biểu kiến (angular subtense of the apparent source)

α

Góc được trương bởi nguồn biểu kiến khi nhìn từ một điểm trong không gian, như thể hiện trên Hình 1.

CHÚ THÍCH 1: Đối với trường hợp biên dạng độ rọi theo phân bố Gauss của hình ảnh nguồn biểu kiến, ví dụ đối với sự phản xạ khuếch tán của chùm tia TEM₀₀, α được xác định với định nghĩa đường kính chùm tia d₆₃ (xem 3.13). Đối với các biên dạng độ rọi không đồng nhất hoặc nhiều nguồn, α được xác định theo 4.3 d).

CHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.

CHÚ THÍCH 3: Vị trí và góc trương của nguồn biểu kiến phụ thuộc vào vị trí nhìn trong chùm tia (xem 3.10).

CHÚ THÍCH 4: Góc trương của nguồn biểu kiến chỉ áp dụng trong tiêu chuẩn này trong dải bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm, vùng có nguy hiểm võng mạc.

CHÚ THÍCH 5: Không được nhầm lẫn góc trương của nguồn laser với sự phân kỳ của chùm tia. Góc trương của nguồn laser không thể lớn hơn sự phân kỳ của chùm tia mà thường nhỏ hơn sự phân kỳ này.

3.8

Lỗ mở (aperture)

Khe hở bất kỳ trong vỏ bảo vệ của sản phẩm laser mà thông qua đó bức xạ laser được phát ra, và người có thể tiếp cận bức xạ này.

CHÚ THÍCH: Xem thêm lỗ mở giới hạn (3.55).

3.9

Nắp che lỗ mở (aperture stop)

Lỗ mở dùng để xác định vùng đo bức xạ.

CHÚ THÍCH: Xem thêm lỗ mở giới hạn (3.55).

3.10

Nguồn biểu kiến (apparent source)

Vật thể thực hoặc ảo tạo nên hình ảnh võng mạc nhỏ nhất có thể có (xét đến phạm vi điều tiết của mắt người), đối với vị trí đánh giá cho trước của nguy hiểm võng mạc.

CHÚ THÍCH 1: Phạm vi điều tiết của mắt người được giả thiết là có thể thay đổi từ 100 mm đến vô hạn. Vị trí của nguồn biểu kiến đối với vị trí nhìn cho trước trong chùm tia là vị trí tại đó mắt điều tiết để tạo ra tình trạng độ rọi võng mạc nguy hiểm nhất.

CHÚ THÍCH 2: Định nghĩa này được sử dụng để xác định, đối với vị trí đánh giá cho trước, vị trí điểm xuất phát biểu kiến của bức xạ laser trong dải bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm. Trong giới hạn triệt tiêu phân kỳ, tức là trường hợp chùm tia chuẩn trực lý tưởng thì vị trí nguồn biểu kiến tiến đến vô hạn.

CHÚ THÍCH 3: Đối với các ảnh hình tròn của các nguồn kéo dài trên võng mạc có biên dạng phân bổ Gauss, có thể sử dụng định nghĩa d₆₃ để xác định góc trương của nguồn biểu kiến α.

3.11

Chùm tia (beam)

Bức xạ laser mà có thể được đặc trưng bởi hướng, độ phân kỳ, đường kính hoặc các thông số quét.

CHÚ THÍCH: Bức xạ tán xạ do phản xạ không phải loại phản xạ gương không được coi là chùm tia.

3.12

Bộ suy giảm chùm tia (beam attenuator)

Thiết bị làm giảm bức xạ laser đến hoặc thấp hơn mức quy định hoặc giảm đi một phần cụ thể.

3.13

Đường kính chùm tia /Độ rộng chùm tia (beam diameter/beam width)

d_u

Đường kính của đường tròn nhỏ nhất chứa u % tổng công suất laser (hoặc tổng năng lượng laser).

CHÚ THÍCH 1: Trong tiêu chuẩn này sử dụng d₆₃.

CHÚ THÍCH 2: Phần thu hẹp của chùm tia là vị trí trong chùm tia nơi đường kính chùm tia là nhỏ nhất.

CHÚ THÍCH 3: Đơn vị SI: mét.

CHÚ THÍCH 4: Định nghĩa đường kính của chùm tia nhìn chung không nên sử dụng để xác định góc trương của nguồn biểu kiến α vì các định nghĩa này là khác nhau. Tuy nhiên, đối với trường hợp độ rọi có biên dạng phân bố Gauss của hình ảnh nguồn biểu kiến, có thể áp dụng d₆₃ để xác định góc trương của nguồn biểu kiến α. Đối với độ rọi có biên dạng của hình ảnh góc trương nguồn biểu kiến không theo phân bố Gauss, sử dụng phương pháp mô tả trong 4.3 d).

CHÚ THÍCH 5: Trong trường hợp chùm tia Gauss, d₆₃ ứng với điểm có độ rọi (phơi nhiễm bức xạ) nằm trong phạm vi 1/e của giá trị đỉnh tại tâm của nó.

CHÚ THÍCH 6: Định nghĩa về đường kính mômen thứ hai (như xác định trong ISO 11146-1) không thích hợp để sử dụng cho biên dạng chùm tia có các đỉnh bức xạ cao tại tâm và mức nền thấp, ví dụ được tạo ra bởi bộ cộng hưởng không ổn định trong trường xa: công suất đi qua lỗ mở có thể được đánh giá không đúng mức đáng kể khi sử dụng mômen thứ hai và tính công suất với giả thiết biên dạng chùm tia là phân bố Gauss.

3.14

Sự phân kỳ của chùm tia (beam divergence)

Góc trong mặt phẳng trường xa của hình nón xác định bởi đường kính chùm tia.

CHÚ THÍCH 1: Nếu đường kính chùm tia (xem 3.13) tại hai điểm cách nhau bởi khoảng cách r là d₆₃ và d’₆₃, sự phân kỳ được cho bởi:

CHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.

CHÚ THÍCH 3: Định nghĩa về đường kính mômen thứ hai (như xác định trong ISO 11146-1) không thích hợp để sử dụng cho biên dạng chùm tia có đỉnh bức xạ cao tại tâm và mức nền thấp, ví dụ được tạo ra bởi bộ cộng hưởng không ổn định trong trường xa hoặc biên dạng chùm tia thể hiện các dạng khuếch tán gây ra do các lỗ mở.

3.15

Sự mở rộng chùm tia (beam expander)

Kết hợp các phần tử quang sẽ làm tăng đường kính của chùm tia laser.

3.16

Thành phần tuyến chùm tia (beam path component)

Thành phần quang nằm trên tuyến chùm tia xác định.

VÍ DỤ: Gương dẫn hướng chùm tia, thấu kính hội tụ hoặc bộ khuếch đại chùm tia.

3.17

Bộ khóa chùm tia (beam stop)

Thiết bị kết thúc tuyến chùm tia laser.

3.18

Sản phẩm laser Cấp 1 (Class 1 laser product)

Sản phẩm laser bất kỳ mà trong quá trình hoạt động không cho phép con người tiếp cận đến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3.2) vượt quá AEL cấp 1 đối với các bước sóng và khoảng thời gian phát xạ áp dụng được (xem 5.3 và 4.3 e)).

CHÚ THÍCH 1: Xem thêm hạn chế của phương thức phân loại trong Phụ lục C.

CHÚ THÍCH 2: Khi các thử nghiệm để xác định phân loại sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong vận hành thì có thể xảy ra đối với các sản phẩm laser loại lắp trong mà bức xạ laser cao hơn AEL của cấp tương ứng của sản phẩm có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng (xem 6.2.1) hoặc bảo trì khi các khóa liên động của các tấm tiếp cận bị làm mất hiệu lực hoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.

3.19

Sản phẩm laser Cấp 1C (Class 1C laser product)

Sản phẩm laser bất kỳ được thiết kế riêng cho ứng dụng tiếp xúc với da hoặc mô không thuộc mắt và:

- trong quá trình hoạt động, nguy hiểm về mắt được ngăn ngừa bởi biện pháp kỹ thuật, tức là phát xạ tiếp cận được được ngăn chặn hoặc giảm xuống thấp hơn AEL của cấp 1 khi laser được giữ không cho tiếp xúc với da hoặc mô không thuộc mắt,

- trong quá trình hoạt động và khi tiếp xúc với da hoặc mô không thuộc mắt, bức xạ hoặc các mức phơi nhiễm bức xạ có thể vượt quá MPE của da khi cần cho quy trình điều trị dự kiến, và sản phẩm laser phù hợp với các tiêu chuẩn áp dụng được.

CHÚ THÍCH 1: Không đủ để phân loại sản phẩm là cấp 1C khi chỉ theo tiêu chuẩn này mà không xét đến các yêu cầu quy định trong tiêu chuẩn an toàn sản phẩm áp dụng được. Xem thêm các hạn chế của phương thức phân loại trong Phụ lục C.

CHÚ THÍCH 2: Vì bức xạ phát có thể vượt quá MPE trên da nên laser cấp 1C có thể có nguy hiểm tiềm ẩn đến các mô. Khái niệm về các giới hạn thích hợp của phát xạ tiếp cận được trong điều kiện tiếp xúc, ví dụ tiếp xúc có thể có với mí mắt, không thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này.

CHÚ THÍCH 3: Khi các thử nghiệm xác định sự phân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành, các sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL của cấp 1 có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng (xem 6.2.1) hoặc bảo trì khi các khóa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực hoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.

3.20

Sản phẩm laser Cấp 1M (Class 1M laser product)

Sản phẩm laser bất kỳ trong dải bước sóng từ 302,5 nm đến 4 000 nm mà trong quá trình vận hành không cho phép người tiếp cận đến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3.2) vượt quá mức AEL của Cấp 1 đối với các bước sóng và khoảng thời gian phát xạ áp dụng được (xem 4.3 e)), với mức bức xạ được đo theo 5.3 a).

CHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương thức phân loại trong Phụ lục C.

CHÚ THÍCH 2: Đầu ra của sản phẩm laser cấp 1M có nguy hiểm tiềm ẩn khi được quan sát bằng kính thiên văn ví dụ như kinh viễn vọng hoặc ống nhòm (xem 5.3 a)).

CHÚ THÍCH 3: Khi các thử nghiệm xác định sự phân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành, các sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL của cấp tương ứng có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng (xem 6.2.1) hoặc bảo trì khi các khóa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực hoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.

3.21

Sản phẩm laser Cấp 2 (Class 2 laser product)

Sản phẩm laser bất kỳ trong dải bước sóng từ 400 nm đến 700 nm mà trong quá trình vận hành không cho phép người tiếp cận đến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3.2) vượt quá mức AEL của cấp 2 đối với các bước sóng và khoảng thời gian phát xạ áp dụng được (xem 5.3 c)).

CHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương thức phân loại trong Phụ lục C.

CHÚ THÍCH 2: Khi các thử nghiệm xác định sự phân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành, các sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL của cấp tương ứng có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng (xem 6.2.1) hoặc bảo trì khi các khỏa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực hoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.

3.22

Sản phẩm laser cấp 2M (Class 2M laser product)

Sản phẩm laser bất kỳ trong dải bước sóng từ 400 nm đến 700 nm mà trong quá trình vận hành không cho phép người tiếp cận đến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3.2) vượt quá mức AEL của cấp 2 đối với các bước sóng và khoảng thời gian phát xạ áp dụng được (xem 4.3 e)), với mức bức xạ được đo theo 5.3 c).

CHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương thức phân loại trong Phụ lục C.

CHÚ THÍCH 2: Đầu ra của sản phẩm laser cấp 2M có nguy hiểm tiềm ẩn khi được quan sát sử dụng kính thiên văn ví dụ như kính viễn vọng hoặc ống nhòm (xem 5.3 c)).

CHÚ THÍCH 3: Khi các thử nghiệm xác định sự phân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành, các sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL của cấp tương ứng có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng (xem 6.2.1) hoặc bảo trì khi các khóa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực hoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.

3.23

Sản phẩm laser Cấp 3R và Cấp 3B (Class 3R and Class 3B laser products)

Sản phẩm laser bất kỳ mà trong quá trình vận hành cho phép người tiếp cận đến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3.2) vượt quá mức AEL của cấp 1 và cấp 2, nếu thuộc đối tượng áp dụng, nhưng không cho phép người tiếp cận với bức xạ laser vượt quá mức AEL của cấp 3R và 3B (tương ứng) đối với khoảng thời gian và bước sóng phát xạ bất kỳ (xem 5.3 d) và 5.3 e)).

CHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương thức phân loại trong Phụ lục C.

CHÚ THÍCH 2: Các sản phẩm laser cấp 1M và cấp 2M có thể có đầu ra cao hơn hoặc thấp hơn mức AEL của Cấp 3R, tùy thuộc vào các đặc tính quang của chúng.

CHÚ THÍCH 3: Khi các thử nghiệm xác định sự phân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành, các sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL của cấp tương ứng có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo trì khi các khóa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực hoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.

3.24

Sản phẩm laser Cấp 4 (Class 4 laser products)

Sản phẩm laser bất kỳ cho phép người tiếp cận đến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3,2) vượt quá mức AEL của cấp 3B (xem 5.3 f)).

CHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương thức phân loại trong Phụ lục C.

3.25

Bức xạ phụ (collateral radiation)

Bức xạ điện từ bất kỳ, trong dải bước sóng từ 180 nm đến 1 mm, ngoại trừ bức xạ laser, được phát bởi sản phẩm laser là kết quả của hoặc trạng thái vật lý cần thiết cho sự vận hành của bộ phát laser.

3.26

Chùm tia chuẩn trực (collimated beam)

Tia bức xạ có sự phân kỳ hoặc hội tụ ở góc rất nhỏ.

3.27

Chế độ tiếp xúc (contact mode)

Sử dụng sản phẩm laser trong đó hệ thống phân phối chùm tia tiếp cận gần với mục tiêu dự kiến.

CHÚ THÍCH 1: Hệ thống phân phối chùm tia không nhất thiết có tiếp xúc vật lý. Ví dụ hệ thống có thể đặt sát với mục tiêu dự kiến với điều kiện các biện pháp điều khiển ký thuật thích hợp được đặt đúng vị trí.

CHÚ THÍCH 2: Định nghĩa này liên quan đến các sản phẩm được phân loại là Cấp 1C.

3.28

Sóng liên tục (continuous wave)

CW

Bộ phát laser vận hành với đầu ra liên tục trong khoảng thời gian bằng hoặc lớn hơn 0,25 s.

3.29

Tuyến chùm tia xác định (defined beam path)

Tuyến dự kiến của chùm tia laser trong sản phẩm laser.

3.30

Sản phẩm laser trình diễn (demonstration laser product)

Sản phẩm laser bất kỳ được thiết kế, chế tạo, dự kiến hoặc xúc tiến nhằm mục đích trình diễn, giải trí, quảng cáo, hiển thị hoặc tác phẩm nghệ thuật.

CHÚ THÍCH: Thuật ngữ “sản phẩm laser trình diễn” không áp dụng cho các sản phẩm laser được thiết kế và dự kiến cho các ứng dụng khác, mặc dù chúng có thể được sử dụng để trình diễn các ứng dụng này.

3.31

Sự phản xạ khuếch tán (diffuse reflection)

Sự thay đổi phân bố theo không gian của chùm tia bức xạ do phân tán theo nhiều hướng bởi mặt phẳng hoặc môi chất.

CHÚ THÍCH: Bộ khuếch tán hoàn hảo sẽ phá vỡ mọi sự tương quan giữa các hướng của bức xạ tới và bức xạ phản xạ.

[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-47, có sửa đổi - Định nghĩa được viết lại hoàn toàn]

3.32

Sản phẩm laser lắp trong (embedded laser product)

Trong tiêu chuẩn này, sản phẩm laser có cấp thấp hơn khả năng vốn có của bộ phát laser kết hợp, do các đặc điểm kỹ thuật giới hạn phát xạ tiếp cận được.

CHÚ THÍCH: Sản phẩm laser được kết hợp trong sản phẩm laser lắp trong được gọi là sản phẩm laser bao kín hoặc hệ thống laser bao kín.

3.33

Khoảng thời gian phát xạ (emission duration)

Khoảng thời gian của xung, của một chuỗi các xung, hoặc của hoạt động liên tục, trong đó có thể xảy ra việc tiếp cận của người với bức xạ laser do vận hành, bảo dưỡng hoặc bảo trì sản phẩm laser.

CHÚ THÍCH: Đối với xung đơn, đây là khoảng thời gian giữa điểm công suất nửa đỉnh của sườn trước và điểm tương ứng trên sườn sau. Đối với chuỗi các xung (hoặc một phần của chuỗi xung), đây là khoảng thời gian giữa điểm công suất nửa đỉnh đầu tiên của sườn trước và điểm công suất nửa đỉnh cuối cùng của sườn sau.

3.34

Bức xạ laser tán xạ (errant laser radiation)

Bức xạ laser lệch khỏi tuyến xác định hoặc tuyến theo thiết kế của chùm tia.

CHÚ THÍCH: Bức xạ này bao gồm cả các phản xạ không mong muốn từ các thành phần của tuyến chùm tia và bức xạ lạc do các thành phần sắp xếp sai hoặc bị hỏng.

3.35

Khoảng thời gian phơi nhiễm (exposure duration)

Khoảng thời gian của xung, của một chuỗi các xung, hoặc của phát xạ liên tục của bức xạ laser tới cơ thể người.

CHÚ THÍCH: Đối với xung đơn, đây là khoảng thời gian giữa điểm công suất nửa đỉnh của sườn trước và điểm tương ứng trên sườn sau. Đối với chuỗi các xung (hoặc một phần của chuỗi xung), đây là khoảng thời gian giữa điểm công suất nửa đỉnh đầu tiên của sườn trước và điểm công suất nửa đỉnh cuối cùng của sườn sau.

3.36

Quan sát nguồn kéo dài (extended source viewing)

Điều kiện quan sát bằng cách cho nguồn biểu kiến ở khoảng cách 100 mm hoặc lớn hơn trương một góc tại mắt lớn hơn góc trương nhỏ nhất (α_min).

CHÚ THÍCH 1: Hai điều kiện nguồn kéo dài được xem xét trong tiêu chuẩn này khi xét đến các nguy hiểm gây thương tích bởi nhiệt lên võng mạc: nguồn trung bình và nguồn lớn. Chúng được sử dụng để phân biệt các nguồn có góc trương của nguồn biểu kiến, α, giữa α_min và α_max (các nguồn trung bình) và lớn hơn (α_max (các nguồn lớn). Xem thêm 3.82.

CHÚ THÍCH 2: Các ví dụ trong đó hệ số C₆ (4.3 c) và Bảng 9) có thể lớn hơn 1 bao gồm quan sát một số nguồn laser khuếch tán, phản xạ khuếch tán, một số laser đơn sắc và một số mạng điốt laser.

3.37

An toàn cho mắt (eye-safe)

Phát xạ tiếp cận được thấp hơn mức AEL của cấp 1 hoặc phơi nhiễm dưới mức MPE đối với mắt trong thời gian phơi nhiễm cho trước.

CHÚ THÍCH 1: Thuật ngữ này được sử dụng không đúng trong một số quảng cáo đối với phát xạ laser trong dải bước sóng lớn hơn 1 400 nm dựa trên các giới hạn phơi nhiễm cao hơn trong dải bước sóng đó so với vùng nguy hiểm cho võng mạc. Thuật ngữ “laser an toàn cho mắt” chỉ có thể được sử dụng để mô tả các sản phẩm laser cấp 1. Ngay cả khi cấp 1 có thể được coi là “an toàn cho mắt” nếu đây là phát xạ nhìn thấy, các nhiễu hình ảnh ngắn hạn như “mất khả năng nhìn tạm thời” và “lưu ảnh” có thể vẫn gây ra khi quan sát trực tiếp chùm tia.

CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ “laser an toàn cho mắt” không thể được sử dụng để mô tả laser chỉ dựa trên bước sóng đầu ra lớn hơn 1 400 nm, vì các bộ phát laser có bước sóng bất kỳ có công suất ra đủ lớn cũng có thể gây thương tích.

3.38

Hỏng một cách an toàn (fail safe)

Xem xét thiết kế trong đó việc hỏng một thành phần nào đó không làm tăng nguy hiểm.

CHÚ THÍCH: Trong chế độ hỏng, hệ thống được làm mất hiệu lực hoặc không làm tăng nguy hiểm.

3.39

Khóa liên động an toàn hỏng một cách an toàn (fail safe safety interlock)

Khóa liên động mà trong chế độ hỏng không làm hỏng mục đích của khóa liên động.

CHÚ THÍCH 1: Ví dụ, khóa liên động được điều khiển chủ động vào vị trí OFF ngay khi nắp có bản lề bắt đầu mở ra, hoặc trước khi tháo nắp tháo rời được, và khóa liên động được giữ chủ động ở vị trí OFF cho đến khi nắp có bản lề được đóng lại hoặc nắp tháo rời được được giữ ở vị trí đóng.

CHÚ THÍCH 2: Với mục đích của tiêu chuẩn này, khóa liên động an toàn ở vị trí OFF sẽ kết thúc chùm tia hoặc giảm công suất ra đến mức yêu cầu. Nếu sử dụng các thành phần điện, điện tử hoặc thành phần lập trình được thì cho phép sử dụng IEC 61508 hoặc ISO 13849 để đánh giá tính tin cậy của khóa liên động.

3.40

Khả năng tiếp cận của người (human access)

a) khả năng cơ thể người tiếp nhận bức xạ laser do sản phẩm laser phát ra, tức là bức xạ có thể được chặn bên ngoài vỏ bảo vệ, hoặc

b) khả năng một que hình trụ có đường kính 100 mm và chiều dài 100 mm chặn các mức bức xạ cấp 3B và thấp hơn, hoặc

c) khả năng bàn tay hoặc cánh tay người chặn các mức bức xạ lớn hơn mức AEL của cấp 3B,

d) ngoài ra đối với các mức bức xạ trong vỏ bảo vệ tương đương với cấp 3B hoặc cấp 4, khả năng của phần bất kỳ của cơ thể người tiếp nhận bức xạ laser nguy hiểm mà có thể được phản xạ trực tiếp bởi bề mặt phẳng bất kỳ từ bên trong sản phẩm xuyên qua lỗ mở bất kỳ trong vỏ bảo vệ của nó.

CHÚ THÍCH: Đối với các sản phẩm laser tạo ra sự tiếp cận khi đi vào, cần xét đến bức xạ cả bên trong và bên ngoài vỏ bảo vệ để xác định khả năng tiếp cận của người. Khả năng tiếp cận của người bên trong vỏ bảo vệ có thể được ngăn ngừa bằng các cơ cấu điều khiển ví dụ các hệ thống phát hiện tự động.

3.41

Tích phân của bức xạ (integrated radiance)

Liều bức xạ (radiance dose)

L_t

Tích phân của bức xạ trong khoảng thời gian phơi nhiễm cho trước thể hiện bằng năng lượng bức xạ trên một đơn vị diện tích của bề mặt bức xạ trên mỗi đơn vị góc khối phát xạ.

CHÚ THÍCH 1: Trong hướng dẫn của ICNIRP, đại lượng này cũng được gọi là liều bức xạ và sử dụng ký hiệu D.

CHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: jun trên mét vuông trên một đơn vị góc khối (J·m^-2·sr^-1).

3.42

Quan sát nội chùm tia (intrabeam viewing)

Tất cả các điều kiện quan sát ở đó mắt bị phơi nhiễm trực tiếp hoặc phản xạ gương với chùm tia laser khác với, ví dụ, việc quan sát các phản xạ khuếch tán.

3.43

Độ rọi (irradiance)

E

Tỷ số giữa lượng bức xạ dФ tới một phần tử của mặt phẳng có diện tích dA

CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: oát trên mét vuông (W·m^-2).

3.44

Bộ phát laser (laser)

Thiết bị bất kỳ có thể được thực hiện để tạo ra hoặc khuếch đại bức xạ điện tử trong dải bước sóng từ 180 nm đến 1 mm chủ yếu bởi quá trình phát xạ cưỡng bức có khống chế.

[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-39, có sửa đổi - Nội dung định nghĩa được trình bày lại]

3.45

Khu vực có khống chế laser (laser controlled area)

Khu vực ở đó việc có mặt và hoạt động trong phạm vi khu vực chịu sự khống chế và kiểm soát với mục đích bảo vệ khỏi nguy hiểm bức xạ laser.

3.46

Nguồn cấp năng lượng laser (laser energy source)

Thiết bị bất kỳ được thiết kế để sử dụng cùng với bộ phát laser nhằm cấp năng lượng để kích thích các điện tử, ion hoặc phân tử.

CHÚ THÍCH 1: Các nguồn năng lượng thông dụng ví dụ như nguồn điện hoặc pin/acquy không được xem là tạo thành các nguồn năng lượng laser.

3.47

Vùng nguy hiểm laser (laser hazard area)

Vùng trong đó phơi nhiễm của mắt và/hoặc da vượt quá các giá trị phơi nhiễm lớn nhất cho phép tương ứng (MPE); xem vùng nguy hiểm danh nghĩa cho mắt (3.64).

CHÚ THÍCH: Để tránh mập mờ, cần bổ sung thông tin chỉ rõ vùng nguy hiểm này là dựa trên MPE của mắt hay da.

3.48

Sản phẩm laser (laser product)

Sản phẩm hoặc cụm linh kiện bất kỳ tạo thành, kết hợp hoặc được thiết kế để kết hợp với bộ phát laser hoặc hệ thống laser.

3.49

Bức xạ laser (laser radiation)

Tất cả các bức xạ điện từ do sản phẩm laser phát ra trong phạm vi từ 180 nm đến 1 mm mà được tạo ra bởi phát xạ cưỡng bức có khống chế.

3.50

Nhân viên an toàn laser (laser safety officer)

Người có hiểu biết về đánh giá và khống chế các nguy hiểm laser và có trách nhiệm giám sát sự khống chế nguy hiểm laser.

3.51

Hệ thống laser (laser system)

Bộ phát laser kết hợp với nguồn cấp năng lượng laser tương ứng có hoặc không có các thành phần kết hợp bổ sung khác.

3.52

Điốt phát quang (light emitting diode)

Thiết bị có lớp tiếp giáp bán dẫn p-n nhằm tạo ra bức xạ điện từ bằng cách kết hợp lại về bức xạ trong các linh kiện bán dẫn trong dải bước sóng từ 180 nm đến 1 mm.

CHÚ THÍCH 1: Bức xạ quang được tạo ra chủ yếu bởi quá trình phát xạ tự phát, mặc dù một số phát xạ cưỡng bức cũng có thể xuất hiện.

3.53

Góc giới hạn chấp nhận để đánh giá nguy hiểm quang hóa lên võng mạc (limiting angle of acceptance for evaluating retinal photochemical hazards)

γ_ph

Góc trên mặt phẳng mà qua đó bức xạ được phát hiện và được sử dụng để xác định phát xạ tiếp cận được, hoặc mức phơi nhiễm cần so sánh với các giới hạn quang hóa lên võng mạc.

CHÚ THÍCH 1: Góc γ_ph có quan hệ với chuyển động của mắt và không phụ thuộc vào góc trương của nguồn. Nếu góc trương của nguồn lớn hơn góc giới hạn chấp nhận quy định γ_ph, thì góc chấp nhận γ được giới hạn ở góc γ_ph và nguồn được quét để phát hiện các điểm nóng. Nếu góc chấp nhận γ không bị giới hạn ở mức quy định thì nguy hiểm có thể bị đánh giá quá cao.

CHÚ THÍCH 2: Nếu góc trương của nguồn biểu kiến nhỏ hơn góc giới hạn chấp nhận quy định thì góc chấp nhận thực tế của thiết bị đo không ảnh hưởng đến giá trị đo được và không phải giới hạn, tức là có thể sử dụng gốc “mở” thông thường của bố trí đo radio chấp nhận.

CHÚ THÍCH 3: Đơn vị SI: radian.

3.54

Góc giới hạn chấp nhận để đánh giá nguy hiểm về nhiệt (limiting angle of acceptance for evaluating thermal hazards)

γ_th

Góc trương lớn nhất cần sử dụng để đánh giá nguy hiểm về nhiệt lên võng mạc.

CHÚ THÍCH 1: Giá trị góc chấp nhận γ có thể thay đổi trong phạm vi từ α_min đến α_max (xem 4.3 d) và 5.4.3 b) 2)).

CHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.

3.55

Lỗ mở giới hạn (limiting aperture)

Diện tích hình tròn trên đó độ rọi và phơi nhiễm bức xạ được lấy trung bình.

3.56

Bảo dưỡng (maintenance)

Việc thực hiện các điều chỉnh hoặc các quy trình được quy định trong thông tin cho người sử dụng do nhà chế tạo cung cấp cùng với sản phẩm laser, các hoạt động này được thực hiện bởi người sử dụng nhằm mục đích đảm bảo tính năng dự kiến của sản phẩm.

CHÚ THÍCH 1: Bảo dưỡng không bao gồm vận hành hoặc bảo trì.

3.57

Góc trương lớn nhất (maximum angular substense)

α_max

Giá trị góc trương của nguồn biểu kiến mà cao hơn góc này thì các giá trị MPE và AEL không phụ thuộc vào kích thước của nguồn.

CHÚ THÍCH 1: Giá trị α_max có thể thay đổi trong phạm vi từ 5 mrad đến 100 mrad tùy thuộc vào thời gian phát xạ (xem Bảng 9).

CHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.

3.58

Đầu ra lớn nhất (maximum output)

Phát xạ lớn nhất tiếp cận được được sử dụng để xác định cấp của sản phẩm laser.

CHÚ THÍCH: Vì việc xác định phát xạ tiếp cận được bao gồm, bên cạnh các điều kiện khác, xem xét các điều kiện sự cố đơn (xem 5.1) nên đầu ra lớn nhất có thể vượt quá đầu ra cao nhất trong hoạt động bình thường.

3.59

Phơi nhiễm lớn nhất cho phép (maximum permissible exposure)

MPE

Mức bức xạ laser mà, trong các trường hợp bình thường, người có thể phơi nhiễm mà không có những ảnh hưởng bất lợi.

CHÚ THÍCH 1: Các mức MPE thể hiện mức lớn nhất mà tại đó mắt hoặc da có thể phơi nhiễm mà không bị thương ngay lập tức hoặc sau thời gian dài; các mức MPE liên quan đến bước sóng của bức xạ laser, thời gian xung hoặc thời gian phơi nhiễm, mô có nguy hiểm rủi ro và, kích thước của hình ảnh võng mạc đối với bức xạ laser nhìn thấy được và gần hồng ngoại trong dải từ 400 nm đến 1 400 nm. Các mức phơi nhiễm lớn nhất cho phép (trong phạm vi hiểu biết hiện nay) được quy định trong Phụ lục A.

CHÚ THÍCH 2: Các giá trị MPE cho trong Phụ lục A chỉ để tham khảo và được cung cấp sao cho nhà chế tạo có thể tính toán NOHD, thực hiện phân tích rủi ro và thông tin đến người sử dụng về sử dụng an toàn sản phẩm. Các giới hạn phơi nhiễm đối với mắt và da của người sử dụng ở nơi làm việc và của công chúng được quy định trong luật ở một số quốc gia. Các giới hạn phơi nhiễm quốc gia quy định trong luật này có thể khác với MPE cho trong Phụ lục A.

3.60

Sản phẩm laser y tế (medical laser product)

Sản phẩm laser bất kỳ được thiết kế, chế tạo, dự kiến hoặc xúc tiến cho các mục đích chẩn đoán, phẫu thuật, thẩm mỹ hoặc chiếu rọi laser trị liệu vào bộ phận bắt kỳ của cơ thể.

3.61

Góc trương nhỏ nhất (minimum angular subtense)

α_min

Giá trị góc trương của nguồn biểu kiến mà lớn hơn góc này thì nguồn được coi là nguồn kéo dài.

CHÚ THÍCH 1: MPE và AEL không phụ thuộc vào kích thước nguồn đối với các góc trương nhỏ hơn α_min.

CHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.

CHÚ THÍCH 3: α_min = 1,5 mrad.

3.62

Khóa chế độ (mode-locking)

Cơ chế hoặc hiện tượng thông thường, trong bộ cộng hưởng laser, tạo ra chuỗi các xung cực ngắn (ví dụ dưới nano giây).

CHÚ THÍCH 1: Trong khi đây có thể là một đặc trưng có cân nhắc nhưng cũng có thể xảy ra tự phát như “tự khóa chế độ”. Công suất đỉnh tạo ra có thể lớn hơn đáng kể công suất trung bình.

3.63

Vị trí khắc nghiệt nhất (most restricitve position)

Vị trí trong chùm tia nơi mà tỷ số phát xạ tiếp cận được trên AEL là lớn nhất.

CHÚ THÍCH 1: Cả phát xạ tiếp cận được và AEL có thể phụ thuộc vào vị trí của đánh giá trong chùm tia. Xem thêm 3.36.

3.64

Vùng nguy hiểm danh nghĩa cho mắt (nominal ocular hazard area)

NOHA

Vùng trong đó độ rọi chùm tia hoặc phơi nhiễm bức xạ vượt quá phơi nhiễm lớn nhất cho phép (MPE) tương ứng đối với giác mạc, kể cả khả năng lệch hướng ngẫu nhiên của chùm tia laser.

CHÚ THÍCH: Nếu NOHD bao gồm cả khả năng quan sát thông qua hỗ trợ quang thì thuật ngữ này được gọi là “NOHA kéo dài”.

3.65

Khoảng cách nguy hiểm danh nghĩa cho mắt (nominal ocular hazard distance)

NOHD

Khoảng cách từ lỗ mở đầu ra mà khi lớn hơn khoảng cách đó thì độ rọi chùm tia hoặc phơi nhiễm bức xạ thấp hơn phơi nhiễm lớn nhất cho phép (MPE) tương ứng.

CHÚ THÍCH: Nếu NOHD bao gồm cả khả năng quan sát thông qua hỗ trợ quang thì thuật ngữ này được gọi là “NOHD kéo dài (ENOHD)”.

3.66

Vận hành (operation)

Sản phẩm laser vận hành trên toàn bộ phạm vi các chức năng dự kiến của nó.

CHÚ THÍCH: Vận hành không bao gồm bảo dưỡng hoặc bảo trì.

3.67

Giới hạn nguy hiểm quang hóa (photochemical hazard limit)

MPE hoặc AEL được dẫn ra để bảo vệ người khỏi các ảnh hưởng bất lợi về quang hóa.

CHÚ THÍCH 1: Trong dải bước sóng cực tím, giới hạn nguy hiểm quang hóa bảo vệ chống các ảnh hưởng bất lợi về quang hóa lên giác mạc và thủy tinh thể, trong khi giới hạn nguy hiểm quang học lên mắt, như xác định trong dải bước sóng từ 400 nm đến 600 nm, bảo vệ chống viêm võng mạc - một thương tích quang hóa cho mắt do phơi nhiễm với bức xạ.

3.68

Vỏ bảo vệ (protective housing)

Các phần của sản phẩm laser (kể cả sản phẩm kết hợp bộ phát laser lắp trong) được thiết kế để ngăn sự tiếp cận của người đến bức xạ laser vượt quá mức AEL quy định (thường được lắp đặt hoặc lắp ráp bởi nhà chế tạo).

CHÚ THÍCH: Xem 5.1 liên quan đến các yêu cầu thử nghiệm để đánh giá sự phù hợp của vỏ bảo vệ trong việc ngăn ngừa sự tiếp cận của người.

3.69

Thời gian xung (pulse duration)

Khoảng thời gian được đo giữa các điểm công suất nửa đỉnh trên sườn trước và sườn sau của xung.

3.70

Bộ phát laser dạng xung (pulsed laser)

Bộ phát laser phát năng lượng của nó dưới dạng xung đơn hoặc chuỗi các xung.

CHÚ THÍCH: Trong tiêu chuẩn này, thời gian xung nhỏ hơn 0,25 s.

3.71

Lượng bức xạ (radiance)

L

Đại lượng được tính theo công thức

trong đó

CHÚ THÍCH 1: Định nghĩa này được đơn giản hóa so với định nghĩa IEV 845-01-34, đủ cho mục đích của tiêu chuẩn này. Trong trường hợp có nghi ngờ, cần tuân thủ định nghĩa IEV trên.

CHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: oát trên mét vuông trên radian gốc khối. (W·m^-2·sr^-1)

[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-01-34, có sửa đổi - Định nghĩa được đơn giản hóa]

3.72

Năng lượng bức xạ (radiant energy)

Q

Tích phân theo thời gian của thông lượng bức xạ Ф trong khoảng thời gian cho trước Δt.

CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: jun (J)

[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-01-27, có sửa đổi - Định nghĩa được đơn giản hóa]

3.73

Phơi nhiễm bức xạ (radiant exposure)

H

Tại một điểm trên mặt phẳng, năng lượng bức xạ tới một phần tử của mặt phẳng chia cho diện tích phần tử đó.

CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: jun trên mét vuông (J·m^-2)

3.74

Công suất bức xạ/Thông lượng bức xạ (radiant power / radiant flux)

Ф, P

Công suất phát ra, truyền tải hoặc nhận được dưới dạng bức xạ

CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: oát (W)

[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-01-24]

3.75

Hệ số phản xạ (reflectance)

ρ

Tỷ số giữa công suất bức xạ phản xạ và công suất bức xạ tới trong các điều kiện cho trước.

CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: Tỷ số không có thứ nguyên.

[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-58, có sửa đổi để đề cập đến công suất bức xạ thay cho thông lượng bức xạ.]

3.76

Bộ nối khóa liên động từ xa (remote interlock connector)

Bộ nối cho phép đấu nối các cơ cấu điều khiển bên ngoài đặt xa các phần khác của sản phẩm laser.

CHÚ THÍCH: Xem 6.4.

3.77

Khóa liên động an toàn (safety interlock)

Cơ cấu tự động kết hợp với từng ngăn của vỏ bảo vệ của sản phẩm laser để ngăn ngừa tiếp cận của người đến bức xạ laser cấp 3R, cấp 3B hoặc cấp 4 khi ngăn đó được tháo ra, mở ra hoặc thay thế.

CHÚ THÍCH: Xem 6.3.

3.78

Quét bức xạ laser (scanning laser radiation)

Bức xạ laser có hướng, điểm bắt nguồn hoặc dạng lan truyền thay đổi theo thời gian so với khung tham chiếu tĩnh tại.

3.79

Bảo trì (service)

Việc thực hiện các quy trình hoặc điều chỉnh được mô tả trong hướng dẫn bảo trì của nhà chế tạo mà có thể ảnh hưởng đến khía cạnh bất kỳ trong tính năng của sản phẩm.

CHÚ THÍCH: Bảo trì không bao gồm bảo dưỡng và vận hành.

3.80

Panel bảo trì (service panel)

Panel tiếp cận được được thiết kế để tháo ra hoặc thay thế khi bảo trì.

3.81

Điều kiện sự cố đơn (single fault condition)

Sự cố đơn bất kỳ có thể xảy ra trong sản phẩm và các hậu quả trực tiếp của sự cố đó.

3.82

Nguồn nhỏ (small source)

Nguồn có góc trương α nhỏ hơn hoặc bằng góc trương nhỏ nhất α_min.

3.83

Phản xạ gương (specular reflection)

Phản xạ từ bề mặt có thể quan sát chùm tia (xem 3.11) kể cả các phản xạ từ các bề mặt đối xứng gương.

CHÚ THÍCH: Định nghĩa này nhằm thừa nhận rằng một số bề mặt phản xạ, ví dụ bộ phản xạ parabol, có thể làm tăng nguy hiểm từ chùm tia tới.

3.84

Giới hạn nguy hiểm về nhiệt (thermal hazard limit)

MPE hoặc AEL được tính toán để bảo vệ con người khỏi các ảnh hưởng bất lợi về nhiệt, khác với thương tích về quang hóa.

3.85

Gốc thời gian (time base)

Thời gian phát xạ cần xem xét để phân loại các sản phẩm laser.

CHÚ THÍCH: Xem 4.3 e).

3.86

Dụng cụ (tool)

Tuốc nơ vít, chìa khóa lục giác hoặc đồ vật khác có thể sử dụng để thao tác vít hoặc phương tiện cố định tương tự.

3.87

Hệ số truyền (transmittance)

т

Tỷ số giữa thông lượng bức xạ truyền đi và thông lượng bức xạ tới trong các điều kiện cho trước.

CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: tỷ số không có thứ nguyên.

[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-59, có sửa đổi]

3.88

Mật độ truyền (transmittance density)

Mật độ quang (optical density)

D

Logarit cơ số 10 của nghịch đảo hệ số truyền т.

D = - log_10т

[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-66]

3.89

Bức xạ nhìn thấy được (visible radiation)

Ánh sáng (light)

Bức xạ quang bất kỳ có khả năng gây ra cảm nhận của mắt một cách trực tiếp.

CHÚ THÍCH: Trong tiêu chuẩn này, bức xạ nhìn thấy là bức xạ điện từ có các bước sóng của các thành phần một màu nằm trong dải từ 400 nm đến 700 nm.

[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-01-03, có sửa đổi - chú thích trong định nghĩa ban đầu được thay bằng chú thích hiện tại]

3.90

Vật cần gia công (workpiece)

Vật được thiết kế để gia công bằng bức xạ laser.

4  Nguyên tắc phân loại

4.1  Quy định chung

Phân loại sản phẩm laser dựa trên việc xác định mức bức xạ tiếp cận được (được xác định theo quy tắc quy định trong Điều 5) và so sánh với mức đó với giới hạn phát xạ tiếp cận được (AEL) kết hợp với từng cấp. Đối với Cấp 1, Cấp 1M, Cấp 2, Cấp 2M và cấp 3R, có thể cần có các phép đo bổ sung để xác định xem có cần các cảnh báo bổ sung hay không (xem Điều 7). Các quy tắc cụ thể áp dụng để phân loại sản phẩm (ví dụ đối với cấp 1C, xem 5.3 b) và 4.4 đối với một số sản phẩm nguồn kéo dài bức xạ).

Do bước sóng có thể thay đổi trong phạm vi rộng, thành phần năng lượng và đặc tính xung của chùm tia laser, các nguy hiểm tiềm ẩn có thể xuất hiện trong ứng dụng đa dạng của nó. Không thể xem bộ phát laser như một nhóm duy nhất để có thể áp dụng các mức an toàn như nhau. Phụ lục C mô tả các nguy hiểm kết hợp với các nhóm và các giới hạn có thể có (ví dụ khi có thể xuất hiện từ việc quan sát có hỗ trợ quang) một cách chi tiết hơn.

4.2  Trách nhiệm phân loại

Nhà chế tạo có trách nhiệm cung cấp phân loại đúng của sản phẩm laser. (Tuy nhiên, xem thêm 6.1).

4.3  Quy tắc phản loại

Sản phẩm phải được phân loại dựa trên cơ sở kết hợp (các) công suất ra và (các) bước sóng của phát xạ tiếp cận được (bức xạ laser) trên toàn dải khả năng trong quá trình hoạt động tại thời điểm bất kỳ sau khi chế tạo mà tạo ra sự phân bổ cho cấp thích hợp cao nhất. Đánh giá phải bao gồm việc xem xét điều kiện sự cố đơn dự đoán được một cách hợp lý bất kỳ trong quá trình hoạt động (xem 5.1 liên quan đến việc áp dụng các nguyên tắc phân tích rủi ro để xác định sự cố đơn nào là có thể dự đoán được một cách hợp lý).

Sản phẩm laser chỉ có thể được ấn định một cấp cụ thể khi nó đáp ứng tất cả các yêu cầu trong tiêu chuẩn này đối với cấp đó; ví dụ các cơ cấu điều khiển, ghi nhãn và thông tin cho người sử dụng.

Đối với các sản phẩm laser phát các chùm tia laser CW có một bước sóng duy nhất mà trực chuẩn hoặc được giả thiết là từ nguồn nhỏ, thì quy trình phân loại có thể được đơn giản hóa và cần xét các hạng mục sau:

4.3 b), 4.3 c), 4.3 d), 4.3 f).

Với mục đích của nguyên tắc phân loại, phải sử dụng các thứ bậc của các cấp (theo thứ tự tăng dần về nguy hiểm cho mắt) như sau: Cấp 1, Cấp 1C, Cấp 1M, Cấp 2, Cấp 2M, Cấp 3R, Cấp 3B, Cấp 4.

CHÚ THÍCH 1: Cấp 1C được xem là không nguy hiểm cho mắt (tương tự cấp 1), nhưng có thể có nguy hiểm cho da nếu sử dụng không thích hợp (xem thêm 5.3 b)).

CHÚ THÍCH 2: Để phân loại sản phẩm laser là Cấp 1M hoặc Cấp 2M, việc sử dụng lỗ mở quy định như Điều kiện 3 sẽ giới hạn lượng bức xạ thu được bởi đồng tử của mắt từ các chùm tia có đường kính lớn. Khi được đo trong Điều kiện 1, các sản phẩm Cấp 1M và Cấp 2M có thể có năng lượng lớn hơn hoặc mức công suất lớn hơn AEL của Cấp 2 hoặc Cấp 3R. Đối với các sản phẩm laser như vậy, phân loại 1M hoặc 2M là thích hợp.

Các giới hạn phát xạ tiếp cận được (AEL) đối với Cấp 1 và 1M, Cấp 2 và 2M, cấp 3R và cấp 3B được cho trong các bảng từ Bảng 3 đến Bảng 8. Các giá trị của hệ số hiệu chỉnh được sử dụng được cho trong Bảng 9 là các hàm của bước sóng, thời gian phát xạ, số lượng xung và góc trương.

a) Bức xạ một bước sóng

Sản phẩm laser một bước sóng, có dải phổ của phát xạ đủ hẹp sao cho các AEL không thay đổi, được ấn định cho một cấp khi bức xạ laser tiếp cận được, được đo trong các điều kiện thích hợp với cấp đó, vượt quá AEL của tất cả các cấp thấp hơn nhưng không vượt quá cấp được ấn định đó.

b) Bức xạ nhiều bước sóng

1) Sản phẩm laser phát ra hai hoặc nhiều bước sóng trong các vùng phổ được thể hiện là sự cộng dồn đối với mắt trong Bảng 1 được ấn định cho một cấp khi tổng các tỷ số của bức xạ laser tiếp cận được (được đo trong các điều kiện thích hợp với cấp đó) với các AEL của các bước sóng đó lớn hơn một đơn vị đối với tất cả các cấp thấp hơn nhưng không vượt quá một đơn vị đối với cấp được ấn định. Quy tắc này cũng áp dụng cho bức xạ không laser trùng khớp trên võng mạc đối với các bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm hoặc trùng khớp trên nắp che lỗ mở đối với các dải bước sóng khác. Do đó, bức xạ không laser phải được xét đến đối với phân loại theo tiêu chuẩn này.

2) Sản phẩm laser phát ra hai hoặc nhiều bước sóng không thể hiện là sự cộng dồn đối với mắt trong Bảng 1 được ấn định cho một cấp khi bức xạ laser tiếp cận được, được đo trong các điều kiện thích hợp với cấp đó, vượt quá AEL của tất cả các cấp thấp hơn đối với tối thiểu một bước sóng nhưng không vượt quá AEL đối với cấp được ấn định đối với bước sóng bất kỳ.

Bảng 1 - Sự cộng dồn các ảnh hưởng lên mắt và da của bức xạ trong các vùng phổ khác nhau ^c

c) Bức xạ từ các nguồn kéo dài

Nguy hiểm cho mắt từ các nguồn laser trong dải bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm phụ thuộc vào góc trương của nguồn biểu kiến α. Sự phụ thuộc này được biểu thị trong các giá trị AEL bằng hệ số C₆ (xem Bảng 9), cũng như trong các quy tắc xác định phát xạ tiếp cận được với góc chấp nhận quy định.

CHÚ THÍCH 3: Một nguồn được coi là nguồn kéo dài khi góc trương của nguồn lớn hơn α_min, trong đó α_min = 1,5 mrad. Hầu hết các nguồn laser có góc trương α nhỏ hơn α_min, và xuất hiện như một “nguồn điểm” biểu kiến (nguồn nhỏ) khi được nhìn từ trong chùm tia (quan sát trong phạm vi chùm tia). Thực vậy, một chùm tia laser hình tròn không thể chuẩn trực với sự phân kỳ nhỏ hơn 1,5 mrad nếu nó là nguồn kéo dài, do đó bộ phát laser bất kỳ khi quy định sự phân kỳ chùm tia là 1,5 mrad hoặc nhỏ hơn không thể được coi là nguồn kéo dài. Đối với nguồn nhỏ, α được đặt đến α_min = 1,5 mrad và C₆ = 1.

CHÚ THÍCH 4: Để đánh giá nguy hiểm về nhiệt lên võng mạc (400 nm đến 1 400 nm), AEL đối với các nguồn kéo dài thay đổi trực tiếp theo góc trương của nguồn. Để đánh giá nguy hiểm về quang hóa lên võng mạc (400 nm đến 600 nm), đối với các phơi nhiễm lâu hơn 1 s, các AEL không thay đổi trực tiếp theo góc trương của nguồn. Tùy thuộc vào khoảng thời gian phát xạ (xem 5.4.3 b)1), góc chấp nhận giới hạn bằng 11 mrad hoặc lớn hơn được sử dụng để đo liên quan đến nguy hiểm quang hóa, và quan hệ của góc chấp nhận giới hạn γ_ph với góc trương α của nguồn biểu kiến có thể ảnh hưởng đến kết quả đo.

CHÚ THÍCH 5: Đối với điều kiện mặc định trong đó C₆ = 1, Bảng 3 đơn giản hóa cung cấp AEL Cấp 1,1M và Bảng 6 đơn giản hóa cung cấp AEL Cấp 3R.

Đối với các nguồn trương một góc nhỏ hơn hoặc bằng α_min, AEL và MPE không phụ thuộc vào góc trương của nguồn biểu kiến α.

Để phân loại các sản phẩm laser ở vị trí hạn chế nhất trong trường hợp áp dụng Điều kiện 1 (xem 5.4.3), cho phép áp dụng phóng đại 7 lần của góc trương a của nguồn biểu kiến để xác định C₆, tức là C₆ = 7 x α/αmin. Biểu thức (7 x α) phải được giới hạn đến α_max trước khi tính C₆. Phải sử dụng giá trị 7 x của α để xác định T₂ của Bảng 9.

CHÚ THÍCH 6: Đối với các trường hợp khi α < 1,5 mrad nhưng 7 x α > 1,5 mrad thì áp dụng các giới hạn đối với α > 1,5 mrad của Bảng 4 và Bảng 7.

d) Nguồn biểu kiến không đồng nhất, không tròn hoặc nhiều nguồn

Để so sánh với các giới hạn võng mạc về nhiệt, nếu

- dải bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm; và

- AEL phụ thuộc vào C₆.

và nếu:

- hình ảnh của nguồn biểu kiến không có biên dạng chiếu rọi đồng nhất[1]; hoặc

- hình ảnh của nguồn biểu kiến gồm nhiều điểm,

thì các phép đo hoặc đánh giá phải được thực hiện đối với từng kịch bản sau:

- đối với từng điểm đơn lẻ; và

- đối với cụm các điểm khác nhau; và

- đối với các vùng từng phần.

Điều này là cần thiết để đảm bảo rằng AEL không bị vượt quá đối với từng góc trương α có thể có trong từng kịch bản. Để đánh giá các cụm điểm hoặc các vùng từng phần, góc chấp nhận γ được thay đổi trong từng kích thước trong khoảng từ (α_min đến α_max, tức là α_min < γ < α_max, để xác định phát xạ tiếp cận được từng phần kết hợp với kịch bản tương ứng. Để so sánh các mức phát xạ từng phần tiếp cận được với AEL tương ứng thì giá trị α được đặt bằng góc trương kết hợp với hình ảnh từng phần của nguồn biểu kiến.

Phân loại dựa trên trường hợp mà tỷ số nằm giữa:

- phát xạ tiếp cận từng phần trong vùng từng phần với góc trương α của vùng đó; và

- AEL tương ứng

là lớn nhất.

Góc trương của nguồn chữ nhật hoặc nguồn tuyến tính được xác định bằng giá trị trung bình số học của hai kích thước góc của nguồn. Kích thước góc bất kỳ lớn hơn α_max hoặc nhỏ hơn α_min phải được giới hạn ở α_max hoặc α_min tương ứng, trước khi tính trung bình.

Để xác định góc trương của nguồn không tròn được phóng đại trong Điều kiện 1, độ phóng đại 7 lần trong điểm c) cần được áp dụng độc lập đối với từng trục trước khi xác định giá trị trung bình số học.

Các giới hạn quang hóa (400 nm đến 600 nm) không phụ thuộc vào góc trương của nguồn, và nguồn được phân tích với góc chấp nhận giới hạn quy định trong 5.4.3 b). Đối với các nguồn lớn hơn góc chấp nhận giới hạn, phát xạ tiếp cận được phải được xác định đối với nguồn biểu kiến từng phần tạo ra giá trị phát xạ lớn nhất.

e) Gốc thời gian

Các gốc thời gian dưới đây được sử dụng trong tiêu chuẩn này để phân loại:

1) 0,25 s đối với bức xạ laser cấp 2, cấp 2M và cấp 3R trong dải bước sóng từ 400 nm đến 700 nm;

2) 100 s đối với bức xạ laser của tất cả các bước sóng lớn hơn 400 nm ngoại trừ các trường hợp liệt kê trong điểm 1) và 3);

3) 30 000 s đối với bức xạ laser của tất cả các bước sóng nhỏ hơn hoặc bằng 400 nm và đối với bức xạ laser có các bước sóng lớn hơn 400 nm trong trường hợp việc quan sát dài hạn có chủ ý là cố hữu trong thiết kế hoặc hoạt động của sản phẩm laser.

Mỗi khoảng thời gian phát xạ có thể có trong phạm vi gốc thời gian phải được xem xét khi xác định phân loại của sản phẩm. Điều này có nghĩa là mức phát xạ của một xung đơn lẻ phải được so sánh với AEL áp dụng cho khoảng thời gian xung, v.v. Sẽ là không đủ nếu chỉ xác định giá trị trung bình mức phát xạ trong khoảng thời gian phân loại của gốc thời gian hoặc để thực hiện đánh giá giá trị của gốc thời gian mà không xét đến các khoảng thời gian phát xạ ngắn hơn.

CHÚ THÍCH 7: Đối với sản phẩm laser phát xạ nhiều bước sóng có phát xạ đồng thời hoặc phát xạ chờm lên nhau trong không gian trong phần phổ ánh sáng nhìn thấy và không nhìn thấy, trường hợp phát xạ được đánh giá là phần bổ sung (xem Bảng 1), và trong trường hợp phần nhìn thấy trên bản thân nó có thể phân loại là cấp 2 hoặc 2M hoặc 3R và phần không nhìn thấy được phân loại là Cấp 1 hoặc Cấp 1M, thì gốc thời gian để đánh giá phát xạ không nhìn thấy có thể là 0,25 s.

f) Laser dạng xung hoặc điều biến liên tục

Phải sử dụng các phương pháp dưới đây để xác định cấp của sản phẩm laser cần áp dụng cho các phát xạ dạng xung hoặc phát xạ điều biến liên tục.

Như một yêu cầu chung, phát xạ tiếp cận được của nhóm xung bất kỳ (hoặc nhóm các xung trong một chuỗi) được phát ra trong thời gian cho trước bất kỳ không được vượt quá AEL đối với thời gian cho trước đó (xem thêm 4.3 e) liên quan đến việc xem xét từng khoảng thời gian phát xạ có thể có).

Đối với tất cả các bước sóng, phải đánh giá các yêu cầu 1) và 2). Ngoài ra, đối với các bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm, yêu cầu 3) cũng phải được đánh giá để so sánh với các giới hạn nhiệt. Yêu cầu 3) không cần đánh giá để so sánh với các giới hạn về quang hóa cũng như xác định AEL của Cấp 3B.

Cấp (xem Bảng 3 đến Bảng 8) được xác định bằng cách áp dụng trường hợp hạn chế nhất trong 1), 2), và 3) nếu thuộc đối tượng áp dụng.

1) Phơi nhiễm từ một xung đơn bất kỳ trong chuỗi xung không được vượt quá AEL đối với xung đơn (AEL_single). Để xác định phát xạ tiếp cận được đối với nguồn kéo dài, thời gian xung được sử dụng để xác định α_max và góc chấp nhận γ_th (xem 5.4.3 b) và Bảng 9).

2) Công suất trung bình đối với chuỗi xung có khoảng thời gian phát xạ T không được vượt quá công suất tương ứng với AEL đối với xung đơn có thời gian xung T (AEL_T). Để xác định phát xạ chấp nhận được đối với nguồn kéo dài, thời gian phát xạ T được sử dụng để xác định α_max và góc chấp nhận γ_th (xem 5.4.3 b) và Bảng 9).

Đối với các dạng xung không bình thường (kể cả các năng lượng xung thay đổi), T phải được thay đổi trong khoảng từ T_i (xem Bảng 2) đến gốc thời gian. Đối với các dạng xung thông thường, chỉ cần lấy trung bình trên gốc thời gian là đủ (T được đặt bằng gốc thời gian).

CHÚ THÍCH 8: Khi so sánh AEL_T với AEL_single hoặc AEL_s.p.train để xác định xem tiêu chí nào là hạn chế nhất, AEL_T được thể hiện là năng lượng hoặc phơi nhiễm bức xạ và được chia cho N và gọi là AEL_s.p.T.

3) Năng lượng trên mỗi xung không được vượt quá AEL đối với xung đơn nhân với hệ số hiệu chỉnh C₅.

trong đó

Nếu thời gian xung t ≤ T_i thì:

Đối với gốc thời gian nhỏ hơn hoặc bằng 0,25 s, C₅ = 1,0

Đối với gốc thời gian lớn hơn 0,25 s

Nếu N ≤ 600      C₅=1,0

Nếu N > 600      C₅ = 5 N^-0,25 với giá trị nhỏ nhất C₅ = 0,4.

Nếu thời gian xung t > T_i thì:

Đối với α ≤ 5 mrad:

C₅ = 1,0

Đối với 5 mrad < α ≤ α_max:

C₅ = N^-0,25 đối với N ≤ 40

C₅ = 0,4 đối với N > 40

Đối với α > α_max:

C₅ = N^-0,25 đối với N ≤ 625

C₅ = 0,2 đối với N > 625

Trừ khi α > 100 mrad, khi đó C₅ = 1,0 trong tất cả các trường hợp.

Nếu nhiều xung xuất hiện trong khoảng thời gian T_i (xem Bảng 2), chúng được tính là xung đơn để xác định N và năng lượng của các xung đơn lẻ này được cộng lại để so sánh với AEL của T_i.

Trong một số trường hợp, giá trị tính được đối với AEL_s.p.train có thể thấp hơn AEL áp dụng cho hoạt động CW tại công suất đỉnh như nhau bằng cách sử dụng cùng gốc thời gian. Trong các trường hợp này, cho phép sử dụng AEL đối với hoạt động CW.

Bảng 2 - Thời gian mà dưới giá trị đó các nhóm xung sẽ được cộng lại

CHÚ THÍCH 9: Ví dụ về các tính toán được cho trong Phụ lục B.

4.4  Sản phẩm laser được thiết kế làm bóng đèn thông thường

Đối với các sản phẩm laser, ngoại trừ đồ chơi, được thiết kế để hoạt động như các bóng đèn thông thường và phát ra bức xạ nhìn thấy và bức xạ quang gần hồng ngoại (400 nm đến 1 400 nm) từ các nguồn kéo dài có góc trương α lớn hơn 5 mrad ở khoảng cách 200 mm, và có tổng các mức bức xạ đỉnh không trọng số (từ 400 nm đến 1 400 nm) được lấy trung bình với góc chấp nhận 5 mrad không vượt quá L_T khi hoạt động và điều kiện sự cố đơn dự đoán được một cách hợp lý, trong đó

L_T = (1 MW·m^-2·sr^-1)/α

Phát xạ có thể được đánh giá theo cách khác trong bộ tiêu chuẩn IEC 62471 (An toàn quang sinh học của bóng đèn và hệ thống bóng đèn). Để tính L_T, góc trương α được thể hiện bằng radian và được xác định ở khoảng cách 200 mm tính từ điểm gần nhất mà người tiếp cận. Giá trị α trong biểu thức L_T được giới hạn ở các giá trị giữa 0,005 rad và 0,1 rad sao cho đối với các nguồn trương một góc 0,005 rad, tiêu chí bức xạ áp dụng được bằng 200 MW·m^-2·sr^-1, và đối với các nguồn lớn hơn 0,1 rad, tiêu chí áp dụng được bằng 10 MW·m^-2·sr^-1.

CHÚ THÍCH 1: Các giá trị bức xạ nêu trên không phải là các giới hạn phơi nhiễm hoặc các giới hạn phát xạ mà là các tiêu chí để thiết lập khi bức xạ phát có thể được đánh giá theo bộ tiêu chuẩn IEC 62471.

CHÚ THÍCH 2: Bức xạ quang không nằm trong phân loại laser có thể là đơn sắc.

Sản phẩm như vậy cần phù hợp với và được phân loại theo tiêu chuẩn này ngoại trừ phát xạ bức xạ quang mô tả ở trên trong hoạt động bình thường và các điều kiện sự cố đơn dự đoán được một cách hợp lý không nhất thiết cần được xét đến khi phân loại (tức là phát xạ bức xạ quang mô tả ở trên trong hoạt động bình thường không được coi là bức xạ laser tiếp cận được). Sản phẩm này phải phù hợp với các yêu cầu của tiêu chuẩn này đối với bức xạ laser tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng hoặc bảo trì.

CHÚ THÍCH 3: Nếu không có bức xạ laser tiếp cận được từ sản phẩm như vậy trong khi hoạt động, khác với mô tả như trên được đánh giá theo IEC 62471, nó cần được coi là sản phẩm laser Cấp 1.

Các sản phẩm này phải được ấn định là nhóm rủi ro theo bộ tiêu chuẩn IEC 62471 và phải chứa nhãn nêu nhóm rủi ro này cũng như phân loại sản phẩm laser (kể cả Cấp 1 nếu thuộc đối tượng áp dụng) và các cảnh báo có thể có.

Phát xạ laser tiếp cận được có các bước sóng thấp hơn 400 nm hoặc cao hơn 1 400 nm được coi là phân loại sản phẩm theo tiêu chuẩn này.

5  Xác định mức phát xạ tiếp cận được và phân loại sản phẩm

5.1  Các thử nghiệm

Các thử nghiệm phải tính đến tất cả các sai lỗi và độ không đảm bảo đo theo thống kê trong quá trình đo và việc tăng phát xạ, giảm an toàn bức xạ theo tuổi thọ. Các yêu cầu cụ thể của người sử dụng có thể yêu cầu các thử nghiệm bổ sung. Đối với hướng dẫn bổ sung về các phép đo, xem IEC/TR 60825-13.

Các thử nghiệm trong khi hoạt động phải được sử dụng để xác định phân loại của sản phẩm. Các thử nghiệm trong vận hành, bảo dưỡng và bảo trì cũng phải được sử dụng khi thích hợp để xác định các yêu cầu đối với khóa liên động an toàn, nhãn và thông tin cho người sử dụng. Các thử nghiệm nêu trên phải được thực hiện trong từng và với mỗi điều kiện sự cố đơn có thể dự đoán được một cách hợp lý. Tuy nhiên, nếu phát xạ được giảm đến mức thấp hơn AEL bằng cách tự động giảm trong khoảng thời gian mà không thể dự đoán được một cách hợp lý sự tiếp cận của con người thì các sự cố như vậy không nhất thiết cần được xét đến. Độ tin cậy yêu cầu của việc tự động giảm mức phát xạ để nằm trong cấp cho trước có thể được đánh giá trên các nguyên tắc phân tích rủi ro, ví dụ như mô tả trong IEC 61508 trong trường hợp quy định mức liền mạch an toàn (SIL). Ngoài ra, để quy định các mức SIL, thời gian phản ứng với sự cố cũng cần được xác định đối với thiết kế việc tự động giảm; thời gian phản ứng mục tiêu cũng có thể dựa trên rủi ro. Không yêu cầu phân tích đầy đủ theo IEC 61508 hoặc áp dụng IEC 61508.

Phân tích rủi ro có thể được sử dụng để xác định các điều kiện sự cố đơn có thể dự đoán một cách hợp lý. Để xác định xem điều kiện sự cố đơn có được coi là có thể dự đoán được một cách hợp lý hay không, cả xác suất (tần suất) sự cố cũng như rủi ro bị thương (xác suất phơi nhiễm đến mức có thể gây thương tích và độ khắc nghiệt của thương tích) cần được xem xét. Rủi ro gây thương tích do sự cố cho trước càng thấp thì sự cố (có thể gây ra mức phát xạ cho trước) càng có thể chấp nhận được và không cần xét đến khi phân loại thiết bị. Phương thức phân tích chấp nhận được của xác suất và rủi ro liên quan đến hư hỏng là FMEA (phương thức hỏng và phân tích hậu quả), và các quy trình được mô tả trong IEC 61508.

CHÚ THÍCH 1: Tự động giảm bao gồm việc hạn chế phát xạ về vật lý như hỏng linh kiện hoặc hệ thống về điều kiện an toàn; Nó không bao gồm việc giảm hoặc kết thúc phát xạ một cách thủ công.

CHÚ THÍCH 2: Ví dụ, tấm bảo vệ an toàn khi quét có thể không phản ứng đủ nhanh để ngăn phát xạ cao hơn AEL trong điều kiện sự cố; tuy nhiên, điều này có thể được chấp nhận dựa trên các kết quả phân tích rủi ro.

CHÚ THÍCH 3: Phân loại được xác định trong khi vận hành và các hạn chế về bảo dưỡng khi đó phụ thuộc vào phân loại của thiết bị.

CHÚ THÍCH 4: Các điều kiện sự cố đơn có thể được đánh giá bằng các phương pháp với điều kiện không đưa thêm sự cố cho thử nghiệm.

Khi đánh giá tính thích hợp của vỏ bảo vệ để ngăn sự tiếp cận của người đến mức năng lượng tương đương cấp 4, phải xem xét các trường hợp sự cố đơn đối với những thay đổi về hướng của chùm tia có thể dự đoán được một cách hợp lý. Việc phân tích phải xét xem trường hợp sự cố đơn có gây ra đủ năng lượng làm suy giảm hoặc phá hủy vỏ bảo vệ hay không. Ví dụ, khi trong quá trình vận hành hoặc điều kiện sự cố đơn, việc đưa vào các cơ cấu tự động hoặc cơ cấu khác để thao tác chùm tia, hoặc việc sử dụng thiết bị quang học hoặc các vật cần gia công có thể làm năng lượng hướng trực tiếp lên các bề mặt của vỏ bảo vệ, thì phải xảy ra một trong các trường hợp dưới đây:

- sự cố đơn phải được triệt tiêu bằng các biện pháp kỹ thuật; hoặc

- vật liệu của vỏ bảo vệ phải chịu được năng lượng mà không bị suy giảm đặc tính bảo vệ đủ để cho phép phơi nhiễm với năng lượng laser nguy hiểm; hoặc

- sự cố phải được phát hiện và việc phát bức xạ laser qua vỏ bảo vệ phải được ngăn ngừa trước khi xảy ra sự suy giảm đặc tính.

Thời gian đánh giá vỏ bảo vệ nhỏ hơn 30 000 s như quy định trong IEC 60825-4 không áp dụng cho phân loại sản phẩm.

CHÚ THÍCH 5: Điều này là do cấp phân loại được xác định mà không xét đến sự can thiệp của con người (xem 6.2.1) và, do đó, không xét đến việc người sử dụng kiểm tra vỏ bảo vệ.

CHÚ THÍCH 6: Việc đánh giá vỏ bảo vệ có xét đến việc người sử dụng kiểm tra hoặc can thiệp có thể được sử dụng để thiết lập các mức an toàn, hoặc để phát hiện sự suy giảm dự kiến về chất lượng của vỏ bảo vệ mà gây ra do các trường hợp nhiều sự cố hoặc các trường hợp sự cố không thể dự đoán được một cách hợp lý, không phụ thuộc vào phân loại của sản phẩm.

Máy khuếch đại quang phải được phân loại bằng cách sử dụng công suất hoặc năng lượng đầu ra tổng lớn nhất tiếp cận được mà có thể bao gồm cả công suất hoặc năng lượng đầu vào danh định lớn nhất. Trong các trường hợp khi không có giới hạn về công suất hoặc năng lượng đầu ra một cách rõ ràng thì cần sử dụng công suất hoặc năng lượng lớn nhất được đưa vào bởi máy khuếch đại cộng với công suất hoặc năng lượng tín hiệu đầu vào cần thiết để đạt được điều kiện đó.

Chấp nhận các thử nghiệm và quy trình tương đương với thử nghiệm và quy trình được quy định trong Điều 5.

5.2  Đo bức xạ laser

Việc đo các mức bức xạ laser có thể cần thiết để phân loại sản phẩm laser theo 5.1. Các phép đo không cần thiết khi các đặc tính vật lý và các giới hạn của nguồn laser đã xác định sản phẩm laser hoặc hệ thống lắp đặt laser một cách rõ ràng theo cấp cụ thể (tuy nhiên, cần xét đến các nguyên tắc cho trong a) đến f)).

Các phép đo bất kỳ phải được thực hiện trong các điều kiện và quy trình sau đây.

a) Điều kiện và quy trình tối đa hóa các mức phát xạ tiếp cận được bao gồm khởi động, phát xạ ổn định và tắt sản phẩm laser.

b) Với tất cả các cơ cấu điều khiển và cài đặt được nêu trong hướng dẫn vận hành, bảo dưỡng và bảo trì được điều chỉnh một cách kết hợp để tạo ra mức tiếp cận bức xạ lớn nhất. Các phép đo cũng được yêu cầu sử dụng các phụ kiện mà có thể làm tăng nguy hiểm bức xạ (ví dụ thiết bị quang chuẩn trực) được cung cấp hoặc giới thiệu bởi nhà chế tạo để sử dụng với sản phẩm và có thể được thêm vào hoặc tháo ra mà không cần sử dụng dụng cụ.

CHÚ THÍCH: Điều này bao gồm cấu hình bất kỳ của sản phẩm mà có thể có được mà không cần sử dụng dụng cụ hoặc làm mất hiệu lực khóa liên động, kể cả các cấu hình và cài đặt mà các hướng dẫn vận hành và bảo dưỡng có cảnh báo. Ví dụ, khi các phần tử quang như bộ lọc, bộ khuếch tán hoặc thấu kính trong tuyến quang của chùm tia laser có thể tháo ra mà không cần sử dụng dụng cụ thì sản phẩm này phải được thử nghiệm theo cấu hình nào tạo mức nguy hiểm lớn nhất. Hướng dẫn của nhà chế tạo không được tháo các phần tử quang không thể đánh giá phân loại là cấp thấp hơn. Phân loại được dựa trên thiết kế của sản phẩm mà không thể dựa trên đáp ứng thích hợp của người sử dụng.

c) Đối với sản phẩm laser không phải loại hệ thống laser, với bộ phát laser được ghép với kiểu nguồn năng lượng laser được nhà chế tạo sản phẩm laser quy định là tương thích và tạo ra phát bức xạ laser tiếp cận được lớn nhất từ sản phẩm.

d) Tại các điểm trong không gian mà người có thể tiếp cận trong vận hành để đo các mức phát xạ tiếp cận được (ví dụ nếu vận hành đòi hỏi tháo các phần của vỏ bảo vệ và làm mất hiệu lực khóa liên động, thì các phép đo phải được thực hiện tại các điểm tiếp cận được trong cấu hình sản phẩm đó).

e) Với bộ phát hiện thiết bị đo được lắp ở vị trí và có hướng liên quan đến sản phẩm laser sao cho thiết bị phát hiện bức xạ là nhiều nhất.

f) Phải thực hiện dự phòng thích hợp để tránh hoặc triệt tiêu sự góp phần của bức xạ phụ đến phép đo.

5.3  Xác định cấp phân loại của sản phẩm laser

Các mức AEL Cấp 1 và 1M được cho trong Bảng 3 và Bảng 4, AEL Cấp 2 trong Bảng 5, AEL Cấp 3R trong Bảng 6 và Bảng 7, và AEL Cấp 3B trong Bảng 8. Hệ số điều chỉnh C₁ đến C₇ và điểm gãy T₁ và T₂ được sử dụng trong các bảng từ Bảng 3 đến Bảng 8 được xác định trong Bảng 9.

a) Cấp 1 và 1M

Cấp 1 áp dụng cho dải bước sóng từ 180 nm đến 1 mm. Cấp 1M áp dụng cho dải bước sóng 302,5 nm đến 4 000 nm. Để xác định phát xạ tiếp cận được trong Điều kiện 1 và Điều kiện 3, xem Bảng 10.

Đối với các bước sóng nhỏ hơn 302,5 nm và lớn hơn 4 000 nm, nếu phát xạ tiếp cận được nhỏ hơn hoặc bằng AEL Cấp 1 đối với Điều kiện 3 thì sản phẩm laser được ấn định là Cấp 1.

Đối với các bước sóng trong phạm vi từ 302,5 nm đến 4 000 nm:

Nếu phát xạ tiếp cận được là

- nhỏ hơn hoặc bằng AEL Cấp 1 đối với Điều kiện 1 và Điều kiện 3, thì sản phẩm laser được ấn định là Cấp 1.

Nếu phát xạ tiếp cận được là:

- lớn hơn AEL của Cấp 1 đối với Điều kiện 1; và

- nhỏ hơn AEL của Cấp 3B đối với Điều kiện 1; và

- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của Cấp 1 đối với Điều kiện 3,

thì sản phẩm laser được ấn định là Cấp 1M.

CHÚ THÍCH 1: Lý do để kiểm tra AEL của Cấp 3B nhằm hạn chế công suất lớn nhất đi qua thiết bị quang đối với trường hợp phơi nhiễm chùm tia từ sản phẩm laser Cấp 1M.

Nếu phát xạ tiếp cận được vượt quá AEL của Cấp 3B như xác định với lỗ mở đường kính 3,5 mm đặt tại điểm gần nhất mà con người tiếp cận, thì phải có cảnh báo bổ sung liên quan đến nguy hiểm tiềm ẩn cho da và/hoặc nguy hiểm cho giác mạc/con người (xem 7.13).

CHÚ THÍCH 2: Sản phẩm laser Cấp 1 với chùm tia có độ phân kỳ lớn có thể tạo ra các mức chiếu rọi đủ lớn ở gần hoặc tiếp xúc với nguồn (ví dụ, đầu sợi cáp) đến mức có thể làm tổn thương da hoặc con người. Tổn thương giác mạc cũng có thể xảy ra trong các điều kiện này đối với các bước sóng dài hơn 1 000 nm.

b) Cấp 1C

Cấp 1C áp dụng khi bức xạ laser được dự kiến đặt tiếp xúc với đích dự kiến và có cơ cấu bảo vệ ngăn rò rỉ bức xạ laser vượt quá AEL của Cấp 1. Sản phẩm laser có thể được ấn định chỉ là Cấp 1C nếu nó cũng đáp ứng các yêu cầu về an toàn đối với các sản phẩm laser Cấp 1C quy định trong tiêu chuẩn sản phẩm cụ thể.

Các sản phẩm laser được thiết kế để sử dụng ở chế độ tiếp xúc với da và mô của người nhưng không phải mắt có thể được phân loại chỉ là Cấp 1C nếu áp dụng tiêu chuẩn trong bộ tiêu chuẩn TCVN 7303 (IEC 60601) hoặc bộ tiêu chuẩn TCVN 5699 (IEC 60335) và có chứa các yêu cầu về an toàn áp dụng cho các sản phẩm laser Cấp 1C. Các sản phẩm laser Cấp 1C này phải có các cơ cấu điều khiển cơ khí để đảm bảo phơi nhiễm bức xạ laser đến mắt là không dự đoán được một cách hợp lý. Chỉ cho phép phân loại là Cấp 1C nếu có tiêu chuẩn IEC áp dụng được, quy định các giới hạn phơi nhiễm của mô đích dự kiến với các mức thích hợp cho ứng dụng dự kiến.

Đối với thử nghiệm ánh sáng tán xạ hoặc bức xạ rò rỉ, AEL của cấp 1 không được vượt quá trong Điều kiện 3 với thiết bị đặt được đặt ở khoảng cách làm việc hoặc tiếp xúc với bề mặt trắng khuếch tán.

CHÚ THÍCH 3: Các sản phẩm laser Cấp 1C điển hình có thể có bộ phận được thiết kế để loại bỏ lông, giảm nếp nhăn trên da và giảm mụn trứng cá, kể cả loại được sử dụng tại gia đình.

c) Cấp 2 và Cấp 2M

Cấp 2 và Cấp 2M áp dụng cho dải bước sóng từ 400 nm đến 700 nm. Để xác định phát xạ tiếp cận được trong Điều kiện 1 và Điều kiện 3, xem Bảng 10.

Nếu phát xạ tiếp cận được vượt quá các giới hạn yêu cầu đối với Cấp 1 và Cấp 1M (xem điểm a) nêu trên), và

- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của Cấp 2 đối với Điều kiện 1 và Điều kiện 3,

thì sản phẩm laser đó được ấn định là Cấp 2.

Nếu phát xạ tiếp cận được vượt quá các mức yêu cầu đối với Cấp 1 và Cấp 1M (xem điểm a) nêu trên), và

- lớn hơn AEL của Cấp 2 đối với Điều kiện 1; và

- nhỏ hơn AEL của Cấp 3B đối với Điều kiện 1; và

- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của cấp 2 đối với Điều kiện 3,

thì sản phẩm laser đó được ấn định là Cấp 2M.

CHÚ THÍCH 4: Lý do để kiểm tra AEL của Cấp 3B nhằm giới hạn công suất lớn nhất đi qua thiết bị đo quang đối với trường hợp phơi nhiễm với chùm tia từ sản phẩm laser Cấp 2M.

Nếu phát xạ tiếp cận được vượt quá AEL của Cấp 3B như xác định với lỗ mở có đường kính 3,5 mm đặt tại điểm gần nhất mà con người tiếp cận, thì phải có cảnh báo bổ sung liên quan đến nguy hiểm tiềm ẩn cho da và/hoặc nguy hiểm cho giác mạc/con người (xem 7.13).

CHÚ THÍCH 5: Sản phẩm laser Cấp 2 có chùm tia phân kỳ lớn có thể sinh ra các mức độ rọi đủ cao ở gần hoặc tiếp xúc với nguồn (ví dụ đầu của sợi quang) đến mức gây tổn thương da hoặc con người.

Bên ngoài dải bước sóng từ 400 nm đến 700 nm, các phát xạ bổ sung của bộ phát laser Cấp 2 phải thấp hơn mức AEL của Cấp 1 (xem 4.3 e) đối với gốc thời gian). Ngoài ra, nếu các bước sóng có ảnh hưởng bổ sung lên mắt (xem Bảng 1) thì tổng của các tỷ số giữa ánh sáng nhìn thấy tiếp cận được với AEL Cấp 2 và tỷ số giữa ánh sáng không nhìn thấy tiếp cận được với AEL Cấp 1 phải nhỏ hơn 1.

d) Cấp 3R

Nếu phát xạ tiếp cận được, như xác định theo 5.4, đối với Điều kiện 1 và Điều kiện 3 là:

- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của Cấp 3R, và

- phát xạ tiếp cận được được xác định với Điều kiện 3 vượt quá AEL đối với Cấp 1 và Cấp 2, nếu thuộc đối tượng áp dụng thì sản phẩm laser được ấn định là Cấp 3R.

Nếu phát xạ tiếp cận được vượt quá AEL Cấp 3B được xác định với lỗ mở có đường kính 3,5 mm đặt tại điểm gần nhất mà con người tiếp cận, phải có cảnh báo bổ sung liên quan đến nguy hiểm da tiềm ẩn và/hoặc nguy hiểm giác mạc/con người (xem 7.13).

CHÚ THÍCH 6: Sản phẩm laser cấp 3R cố chùm tia phân kỳ lớn có thể sinh ra các mức độ rọi đủ cao ở gần hoặc tiếp xúc với nguồn (ví dụ đầu của sợi quang) đến mức gây tổn thương da hoặc con người.

e) Cấp 3B

Nếu phát xạ tiếp cận được, như xác định theo 5.4:

- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của Cấp 3B đối với Điều kiện 1 và Điều kiện 3, và

- vượt quá AEL của Cấp 3R đối với Điều kiện 1 hoặc Điều kiện 3, và

- vượt quá AEL của cấp 1 và cấp 2 đối với Điều kiện 3

thì sản phẩm laser được ấn định là cấp 3B.

f) Cấp 4

Nếu phát xạ tiếp cận được, như xác định theo 5.4, đối với Điều kiện 1 hoặc Điều kiện 3, vượt quá AEL của Cấp 3B thì sản phẩm phải được ấn định là Cấp 4.